Analisi strumentale e controllo dei materiali - lezioni 1-16

Il confronto tra il valor medio e il valore vero è espresso da: esattezza. precisione. accuratezza. sensibilità.

Le età di un gruppo di amici sono: 22,25,25,25,23,23,24,23,25,25,23,24. Calcolare la frequenza relativa per ogni classe. Fr(22) = 0,08; Fr(23) = 0,23; Fr(24) = 0,27; Fr(25) = 0,42. Fr(22) = 0,08; Fr(23) = 0,23; Fr(24) = 0,57; Fr(25) = 0,12. Fr(22) = 0,08; Fr(23) = 0,33; Fr(24) = 0,17; Fr(25) = 0,42. Fr(22) = 0,08; Fr(23) = 0,23; Fr(24) = 0,37; Fr(25) = 0,32.

L'analisi statistica quantifica e valuta gli: errori sistematici. errori ambientali. errori casuali. errori di metodo.

Ho l'80% di probabilità che l'età media di una popolazione cada in un intevallo di fiducia i cui estremi saranno. ±1,29 ?. ±1,64 ?. ±1,69 ?. ±1,79 ?.

La deviazione standard. misura la distanza dalla media ed indica la dispersione della variabile casuale intorno alla media. misura la distanza dalla moda ed indica la dispersione della variabile intorno alla media. indica la deviazione della variabile intorno alla media. indica la frequenza di dispersione delle variabile intorno alla media.

La f.e.m. di una pila è data dalla. differenza tra elettrodo a potenziale negativo su cui avviene la riduzione e l'elettrodo a potenziale positivo su cui avviene l'ossidazione. differenza tra elettrodo a potenziale maggiore su cui avviene la riduzione e l'elettrodo a potenziale minore su cui avviene l'ossidazione. differenza tra elettrodo a potenziale maggiore su cui avviene l'ossidazione e l'elettrodo a potenziale minore su cui avviene la riduzione. differenza tra elettrodo a potenziale maggiore (anodo) e l'elettrodo a potenziale minore (catodo).

In una soluzione di ioni Fe3+ + e = Fe2+ è immerso un filo di Pt. Il potenziale elettrodico è. E = E° + (RT/n) ln (Fe3+/Fe2+). E = E° + (RT/F) ln (Fe3+/Fe2+). E = E° + (RT/nF) ln (Fe2+/Fe3+). E = E° + (RT/n) ln (Fe2+/Fe3+).

Data una pila Pb/Ni calcolare la concentrazione degli ioni Ni2+ perché la f.e.m. della pila sia nulla; sapendo che E0Pb2+ /Pb = -0,13V; E0Ni2+/Ni = -0,23V; i coefficienti di attività sono nulli e [Pb2+] = 0,001M. 0,33 M. 1535,58 M. 2,14 M. 2,41 M.

Una lamina di Pt in una soluzione di ioni ferrici e ferrosi è un. elettrodo di 1° specie. elettrodo di 2° specie. elettrodo di 4° specie. elettrodo di 3° specie.

In presenza di una soluzione di analita a T = 90°C per misurare il potenziale elettrodico si impiega come elettrodo di riferimento. un elettrodo a Ag/AgCl. un elettrodo a pH. un elettrodo a gas. un elettrodo a calomelano.

Le misure di pH di una soluzione a concentrazione sconosciuta si effettuano misurando. la f.e.m. dell'elettrodo di riferimento quando è immerso nella soluzione incognita. le differenze di potenziale tra le soluzioni. la f.e.m. quando è immerso in una soluzione standard a pH noto. una f.e.m. dell'elettrodo a vetro più quello di riferimento quando sono immersi nella soluzione incognita e l'altra f.e.m. misurata quando è immerso in una soluzione standard a pH noto.

Il glucometro è un. elettrodo a membrana biocatalitica. elettrodo a vetro. elettrodo gas selettivo. elettrodo ad Ag/AgCl.

Negli elettrodi a vetro per la misura di pH il potenziale di membrana dipende. dalle differenti superfici a contatto e dalla differente attività di ioni H+ nelle due soluzioni a contatto con la membrana. dal potenziale interno e esterno. dalla differente attività di ioni H+ nelle due soluzioni a contatto con la membrana. dalle differenti superfici a contatto.

In voltammetria affinchè il processo di scarica a potenziale costante avvenga più rapidamente è necessario che. la velocità di scambio degli elettroni tra eletrodo e soluzione sia di gran lunga superiore rispetto a quella con cui la specie chimica arriva all'elettrodo. la velocità di scambio degli elettroni tra eletrodo e soluzione sia tale da eguagliare il potenziale riducente dell'elettrodo. la velocità con cui la specie chimica arriva all'elettrodo sia di gran lunga superiore rispetto a quella di scambio degli elettroni tra eletrodo e soluzione. la velocità di scambio degli elettroni tra eletrodo e soluzione sia minore superiore rispetto a quella con cui la specie chimica arriva all'elettrodo.

La voltammetria permette di. determinare quantativamente le specie chimiche in soluzione, come tracce di metalli pesanti, di sostanze organiche. misurare il passaggio di corrente tra due specie chimiche in soluzione. misurare qualitativamente e specie chimiche in soluzione, come tracce di metalli pesanti, di sostanze organiche. misurare la d.d.p. tra due elettrodi.

Il ciruito potenziostatico misura. la tensione circolante nella cella tra working e auxiliary electrode. la corrente circolante nella cella tra working e reference electrode. la tensione circolante nella cella tra working e reference electrode. la corrente circolante nella cella tra working e auxiliary electrode.

La cella di misura di un voltametro è composta da: working electrode, reference electrode, auxiliary electrode. waged electrode, reference electrode, auxiliary electrode. operating electrode, referenced electrode,auxiliary electrode. working electrode, reference electrode, auxilium electrode.

In voltammetria una specie elettrochimica è soggetta ad un processo di scarica a potenziale variabile, il processo avverrà se. il processo di scarica all'elettrodo avviene per diffusione o quando il processo di scarica è regolato sia dalla diffusione che dalla velocità di trasferimento degli elettroni. il processo di scarica all'elettrodo avviene per diffusione, per sovratensione o quando il processo di scarica è regolato sia dalla diffusione che dalla velocità di trasferimento degli elettroni. il processo di scarica all'elettrodo avviene per sovratensione o quando il processo di scarica è regolato sia dalla diffusione che dalla velocità di trasferimento degli elettroni. il processo di scarica all'elettrodo avviene per diffusione o per sovratensione.

In coulombometria aumentando la d.d.p. si rischia che si dissolvano altre spechie chimiche in soluzione allora si ricorre. potenziometri a tre elettrodi. nessuna delle tre precedenti. potenziometri a potenziale costante. ad un integratore.

L'equivalente elettrochimico ? in coulombometria è pari: MM/96485n. MM/96485. ME/96485n. nessuna delle tre precedenti.

Lo spessore di rivestimento su di una superficie può essere determinato con misure coulombometriche: h = m/S. h = m/Sd. h = m/Vd. nessuna delle tre precedenti.

La coulombometria determina. la carica che attraversa il circuito durante il processo di dissoluzione. la massa misurando la carica che attraversa il circuito durante la scarica. la tensione misurando la massa che attraversa il circuito durante la scarica. la corrente per dissolvere da una superficie nota un certo quantitativo di sostanza depositato senza intaccare il metallo sottostante.

L'evoluzione del peso di un campione soggetto ad un'analisi termo-gravimetrica. è soggetta a due tipo di controllo: isobarico e con T crescente. è soggetta a due tipo di controllo: isotermico o isobarico. è soggetta a due tipo di controllo: isotermico o con T crescente. nessuna delle condizioni esposte.

Nel termogramma di un polimero la velocità della perdita di peso corrisponde ad un. nessuna delle tre. picco. ad una rampa a gradino. flesso.

Nel termogramma di un polimero la perdita di peso corrisponde ad un. flesso. picco. picco max. picco minimo.

Nella TGA dell'ossalato di calcio monoidrato CaC2O4 + H2O aumentando la temperatura con una velocità di 5 °C/min la prima sostanza che si perde è. acqua. carbonato di calcio. monossido di carbonio. anidride carbonica.

Nella TGA l'uso di gas nella fornace. non è necessario. serve a pulire il forno alla fine della misura. assicura un'atmosfera inerte. serve a spurgare il forno, ad evitare l'ossidazione del campione e a diffondere il calore in ogni punto.

La strumentazione della TGA si compone principalmente di: Sistema spurgo gas e termocoppia. Bilancia e termocoppia. Portacampione, forno, sistema spurgo gas. Forno e bilancia.

Le curve termogravimetriche riportano. la perdita di massa in funzione della T o del tempo. la percentuale di massa in funzione della pressione e della T. il peso a Tambiente. la velocità di perdita dei componenti in funzione della T.

Cosa è la TGA?. è una tecnica in cui si determinano i componenti di una miscela e i loro pesi al variare di T. è una tecnica in cui si misura la variazione di temperatura di un grave. è una tecnica in cui si misura la caduta di un grave al variare di T. è un'analisi termica quantitativa in cui si misura la variazione di peso di un materiale, quando esso viene riscaldato, in atmosfera controllata.

I picchi della DTA esprimono. i cambiamenti fisici e le reazioni chimiche indotte dalle variazioni di T del campione. processi endotermici ed esotermici a cui è sottoposto il campione vs variazioni di volume. le reazioni di ossidazione. le transizioni di fase.

In un termogramma si riporta. delta E vs delta V. delta T vs Triferimento. delta V vs Tcampione. delta T vs Tcampione.

La DTA avviene in. una bilancia a T ambiente. Una camera termica in presenza di argon. Un recipiente riscaldato e chiusoermeticamente. Un forno in atmosfera controllata.

Qual è lo strumento più semplice dell'analisi termica?. Il termometro. Il tester digitale. La termocoppia. Un forno riscaldato elettricamente.

Il fenomeno del creep nei polimeri è dovuto. allo scorrimento delle lunghe catene molecolari le une sulle altre al crescere di T e del carico applicato. al movimento di vuoti o difetti nella struttura cristallina al crescere della T e del carico applicato. al passaggio da fase cristallina ad amorfa al crescere di T. nessuna delle tre precedenti.

L'analisi TermoMeccanica determina. il coefficiente di espansione termica dei materiali quando sono sottoposti a carico. il modulo elastico dei polimeri sottposti a carico costante e a gradiente di T. le variazioni di T dei materiali se sottoposti a carico. le caratteristiche meccaniche dei materiali misurando variazioni dimensionali al crescere della T e se sottoposti a carico.

Il fenomeno del creep nei metalli è dovuto. al movimento di vuoti o difetti nella struttura cristallina al crescere della T e del carico applicato. nessuna delle tre precedenti. al scorrimento delle molecole al crescere della T e del carico applicato. al movimento di vuoti o difetti nella struttura amorfa al crescere della T e del carico applicato.

Nella prova Izod. si misura la resistenza all'impatto. il provino intagliato è appoggiato e si misura l'energia sprigionata dalla frattura. il provino intagliato è incastrato da una parte e si misura la resistenza all'impatto in base all'energia sprigionata dalla frattura. il provino intagliato è appoggiato e si misura la resistenza all'impatto in base all'energia sprigionata dalla frattura.

Le prove a fatica. sono prove meccaniche in cui il carico, inferiore al limite elastico, è applicato tramite una traversa con movimento servoidraulico. sono prove dinamiche in cui il carico, inferiore al limite elastico, è applicato tramite una traversa con movimento servoidraulico. sono prove meccaniche cicliche in cui il carico è applicato tramite una traversa con movimento elettromeccanico. sono prove dinamiche in cui il carico, inferiore al limite elastico, è applicato tramite una traversa con movimento elettromeccanico.

Cosa si intende per temperatura di partenza in un termogramma DSC?. La temperatura di partenza è data dall'intersezione di due linee tangenti, l'una tangente alla linea di base e l'altra tangente al tratto di curva pendente in corrispondenza di una transizione. La temperatura di partenza è data dall'intersezione tra la linea tangente alla linea di base e l'altra ortogonale all'asse y. La temperatura di partenza è data dall'intersezione tra la linea tangente alla linea di base e l'altra in corrispondenza del punto di flesso della curva calorimetrica. La temperatura di partenza è data dall'intersezione tra la linea tangente al tratto di curva pendente in corrispondenza di una transizione e la perpendicolare all'asse delle ascisse.

La calorimetria a scansione differenziale misura. La quantità di calore assorbita o ceduta da un campione in fase di riscaldamento o raffreddamento. La quantità di calore assorbita da un campione in fase di riscaldamento. La differenza di temperatura tra il campione da analizzare e il campione di riferimento. La quantità di calore ceduta da un campione in fase di raffreddamento.

La cristallizzazione in una scansione differenziale è rappresentata. da un punto di flesso. da un picco endotermico. da un picco esotermico. dalla differenza tra due picchi esotermici.

Il grado di cristallinità con la DSC è dato. dal rapporto tra l'entalpia di fusione del campione e l'entalpia di una sostanza totalmente cristallina. dal rapporto tra l'entalpia di fusione del campione e l'entalpia di una sostanza semicristallina. dal rapporto tra il calore specifico del campione e quello di una sostanza totalmente cristallina. dal rapporto tra l'entalpia di cristallizzazione del campione e quella corrispondente di una sostanza totalmente cristallina.

L'area sottesa da un picco durante una misura DSC. rappresenta il calore ceduto durante la reazione e da cui poter ricavare il calore specifico. rappresenta l'entalpia di reazione, ovvero il calore assorbito o ceduto durante la reazione e da cui poter ricavare il calore specifico. rappresenta lo scambio di calore tra campione e riferimento. rappresenta il calore assorbito durante la reazione e da cui poter ricavare il calore specifico.

L'aberrazione astigmatica è quella in cui. per un punto oggetto si producono una serie di immagini a diversa distanza dalla lente a seconda dell'apertura. Il punto oggetto produce una serie di punti immagine a diversa distanza dalla lente. per un punto-oggetto fuori asse, si ha una serie di punti-immagine di cui al massimo uno sarà a fuoco, mentre gli altri saranno sfocati ed a diversa distanza dall'asse. Il punto oggetto produce due immagini allungate, a diversa distanza dalla lente, una disposta radialmente, l'altra tangenzialmente.

Se l'oggetto è a distanza inferiore al punto focale. l'immagine dell'oggetto è capolvolta ed ingrandita. l'immagine dell'oggetto è ribaltata e rimpicciolita. l'immagine dell'oggetto è dritta ed ingrandita. l'immagine dell'oggetto è ribaltata.

La distanza focale è. 1/f = (n2 - n1/n1)(1/r1 + 1/r2). 1/f = (1/n2 - n1)(1/r1 + 1/r2). 1/f = (n1 - n2/n2)(1/r1 + 1/r2). 1/f = (n- 1)(1/r1 + 1/r2).

Il microscopio composto è. costituito da un oculare e un obiettivo; l'immagine dritta dell'oggetto deve cadere tra il primo fuoco dell'oculare e l'oculare stesso. costituito da un oculare e un obiettivo; l'immagine capovolta dell'oggetto deve cadere tra il primo fuoco dell'oculare e l'oculare stesso. costituito da un oculare e un obiettivo; l'immagine dell'oggetto deve cadere tra tra il primo fuoco dell'oculare e l'obiettivo stesso. costituito da un oculare e un obiettivo; l'immagine ingrandita dell'oggetto deve cadere tra il primo fuoco dell'obiettivo e l'oculare stesso.

La microscopia ottica indaga. superfici dell'ordine di pochi nanometri nell'ambito di lunghezze d'onda tra i 400 e 700 nm. superfici dell'ordine di pochi nanometri nell'ambito di lunghezze d'onda tra i 400 e 10 nm. superfici dell'ordine di pochi micrometri nell'ambito dello spettro del visibile. superfici dell'ordine di pochi nanometri nell'ambito dello spettro del visibile.

Nella M.O. per avere in campo oscuro l'immagine è. ottenuta da luce rdiffratta da un condensatore piano. ottenuta da luce riflessa da un condensatore paraboloide. ottenuta da luce diffratta da un condensatore paraboloide. ottenuta da luce riflessa da un condensatore.

La risoluzione di un microscopio migliora se. NA è elevato, piccole lunghezze d'onda e minime distanze. NA è elevato, grandi lunghezze d'onda e distanze. NA è inferiore a 0,95, grandi lunghezze d'onda e distanze minime. NA è basso, piccole lunghezze d'onda e distanze rilevabili.

L'ingrandimento angolare in un microscopio ottico è il rapporto tra. l'angolo con il quale vedo l'oggetto e l'angolo con il quale vedo l'oggetto all'infinito. l'angolo con il quale vedo l'oggetto all'infinito e l'angolo con il quale vedo l'oggetto. l'angolo con il quale vedo l'oggetto all'infinito e l'angolo con il quale vedo l'oggetto senza lente. l'angolo con il quale vedo l'oggetto senza lente e l'angolo con il quale vedo l'oggetto all'infinito.

In Microscopia ottica per avere basse diffrazioni si impiegano. lenti piccole, angoli di apertura grandi e distanze prossime a l. lenti piccole, angoli di apertura grandi e distanze grandi. lenti grandi, angoli di apertura piccoli e distanze grandi. lenti piccole, angoli di apertura piccoli e distanze prossime a l.

La risoluzione di un microscopio è pari a. d = 1.22 ?/ n sin ?. d = 0.61 ?/sen ?. d = 1.22 ?/ NA. d = 0.61 ?/ NA.

Se la dstanza dell'oggetto dalla lente del microscopio è compresa tra 2f e f, dove f è la distanza focale, l'immagine è. ingrandita e capovolta. rimpicciolita e capovolta. ingrandita e virtuale. ingrandita e non capovolta.

Le immagini nei microscopi ottici in campo chiaro e incampo oscuro si basano sul. contrasto per differenti ampiezze delle onde luminose. contrasto per differenza delle lunghezze d'onda delle onde luminose. contrasto per differenti ampiezze e sfasamenti delle onde luminose. contrasto per differenza di fase delle onde luminose.

Nel microscopio Normaski i due prismi Wollaston: Il primo prisma separa la luce polarizzata in fasci paralleli con cammini diversi; il secondo prisma ricombina i fasci in luce polarizzata linearmente. Il primo prisma separa la luce polarizzata in fasci paralleli con cammini diversi; il secondo prisma ricombina i fasci in luce polarizzata ellitticamente. Il primo prisma polarizza il fascio di luce; il secondo li separa in fasci paralleli. Il primo prisma separa la luce polarizzata in fasci paralleli; il secondo prisma ricombina i fasci in luce polarizzata.

Il microscopio confocale è così chiamato. perché la sorgente illumina il campione in un solo punto per volta ed è necessaria una scansione per formare l'immagine tridimensionale finale. per la presenza di due pinhole: uno nel filtro di eccitazione e l'altro in quello d'emissione. per la presenza di due pinhole su piani coniugati: uno nella sorgente di illuminazione e l'altro nell'obiettivo. per la presenza di due pinhole su piani coniugati: uno nella sorgente di illuminazione e l'altro in quella della rivelazione.

Durante l'analisi con un polarimetro. si introduce il campione nel tubo e si ruota l'analizzatore in modo da rilevare due semicerchi illuminati di luce gialla con la medesima intensità. si introduce il campione nel tubo e si ruota l'analizzatore in modo da rilevare nell'oculare due semicerchi di uguale intensità, mentre il nonio ci darà il valore dello spostamento angolare. si introduce il campione nel tubo e si ruota l'analizzatore in modo da rilevare una condizione di penombra uniforme, mentre il nonio ci darà il valore dello spostamento angolare. si introduce il campione nel tubo e si ruota l'analizzatore in modo da rilevare nell'oculare due semicerchi di diversa intensità, mentre il nonio ci darà il valore dello spostamento angolare.

Dati due filtri polarizzatori i cui assi di polarizzazione sono perpendicolari tra loro: il primo con asse orizzontale e il secondo con asse verticale. Se il primo fa passare luce polarizzata verticalmente, il secondo permette il passaggio di luce orizzontalmente. Se il primo fa passare luce polarizzata orizzontalmente, il secondo fa passare solo luce polarizzata verticalmente. Se il primo fa passare luce polarizzata verticalmente, il secondo blocca il passaggio di luce. Se il primo fa passare luce polarizzata orizzontalmente, il secondo blocca il passaggio di luce.

Nei microscopi ottici a fluorescenza si ha che. l'assorbimento della radiazione emessa è più grande di quella della radiazione assorbita. la lunghezza d'onda della radiazione assorbita è più grande di quella della radiazione emessa. la differenza di fase della radiazione emessa è più grande di quella della radiazione assorbita. la lunghezza d'onda della radiazione emessa è più grande di quella della radiazione assorbita.

Il filtro di sbarramento nel microscopio a fluorescenza. seleziona solo le radiazioni assorbite provenienti dal campione. seleziona solo le radiazioni IR provenienti dal campione. seleziona solo le radiazioni provenienti dai cromogeni provenienti dal campione. seleziona solo le radiazioni di lunghezza d'onda superiore ai 800 nm.

Per evidenziare la microstruttura di una lega al microscopio ottico. si sesegue un attacco chimico con nital. non si sesegue un attacco chimico ma solo un lavaggio prima e dopo il taglio e la lucidatura. si sesegue un attacco elettrolitico. si sesegue un attacco chimico con picral.

L'attacco metallografico può essere. solo elettrolitco. di tipo chimico ed elettrolitico. nessuno dei tre casi precedenti. di tipo chimico.

Differenza tra montaggio a caldo e a freddo di un campione da analizzare al microscopio. Il montaggio a caldo prevede la presenza di una resina che catalizzi ad alte temperature, mentre quello a freddo tramite incollaggio a temperatura ambiente. Il montaggio a caldo prevede la presenza di una polvere che sinterizzi ad alte temperature, mentre quello a freddo in presenza di un elastomero a temperatura ambiente. Il montaggio a caldo prevede la presenza di una resina che catalizzi ad alte temperature, mentre quello a freddo catalizza a tempertaura ambiente. Il montaggio a caldo prevede la presenza di una polvere che sintetizzi ad alte temperature, mentre quello a freddo in presenza di una resina termoplastica.

In M.O. il taglio EDM è praticato. con un elettrodo laser che invia una scarica elettrica al campione che è immerso in un fluido dielettrico. con un elettrodo che invia una scarica elettrica al campione che è immerso in un fluido dielettrico. con un disco rotante in cui sono presenti particelle abrasive. con un elettrodo che invia una scarica elettrica al campione che è immerso in un fluido rifrigerante.