Analisi strumentale e controllo dei materiali - lezioni 17-32

Per un'analisi SEM a 970°C e 0,015 mbar si impiega come sorgente. a emissione di campo a catodo caldo. a monocristallo a esaborato di lantanio. a emissione di campo a catodo freddo. a filamento di W.

Le lenti elettromagnetiche presenti nel SEM. riducono il fascio elettronico, servono a scansionare il campione. convergono il fascio elettronico riducendolo in un spot piccolo senza aberrazioi. convergono il fascio elettronico riducendolo in un spot piccolo, servono a scansionare il campione, riducendo il segnale. convergono il fascio elettronico con dimensioni di 100 micron.

Bisogna effettuare un'analisi cristallografica in cui si richiede un ingrandimento di 150 kX si impiega un. microscopio a scansione elettronica. microscopio confocale. microscopio a contrasto di interferenza differenziale. microscopio ottico.

Nel SEM è importante creare un vuoto elevato. per evitare la dispersione del fascio e per generare gli elettroni. per eliminare il 99,9% d'aria e per poter lavorare a pressioni di 1,33 mbar. per generare gli elettroni. per collimare il fascio elettronico.

Le lenti finali nel SEM. producono un campo magnetico lungo tutto la distanza che intercorre nei condensatori. raccolgono le immagini scansionate. permettono la scansione monodimensionale del fascio elettronico su una porzione d'area quadrata del campione. permettono la scansione del fascio elettronico su una porzione d'area quadrata del campione nelle direzioni X e Y.

Gli elettroni secondari diventano più numerosi. se l'energia del fascio incidente è alta e se aumentano gli urti con gli elettroni retrodiffusi in funzione del numero atomico. se l'energia del fascio incidente è bassa e se diminuiscono gli urti con gli elettroni retrodiffusi in funzione del numero atomico. se l'energia del fascio incidente è alta e se diminuiscono gli urti con gli elettroni retrodiffusi in funzione del numero atomico. se l'energia del fascio incidente è bassa e se aumentano gli urti con gli elettroni retrodiffusi in funzione del numero atomico.

Gli elettroni secondari penetrano in superficie fino a. 50 micron. 0,05 mm. 5 nm. 50nm.

Di quali elettroni si tratta se hanno pochi eV di energia e danno informazioni sulla composizione del campione?. elettroni retrodiffusi. elettroni trasmessi. elettroni secondari. elettroni Auger.

Gli elettroni backscattered. hanno intensità superiore agli elettroni secondari e danno informazioni sui materiali investigati in base al numero atomico. hanno energia inferiore agli elettroni secondari e danno informazioni composizionali sui materiali investigati attraverso lo spessore. hanno energia superiore agli elettroni secondari e danno informazioni sui materiali investigati in base al numero atomico. hanno intensità superiore agli elettroni Auger e danno informazioni sui materiali investigati.

Analizzando il segnale nel SEM troviamo. elettroni secondari, retrodiffusi, raggi X caratteristici e dello spettro continuo. elettroni secondari, Auger, retrodiffusi, raggi X caratteristici e dello spettro continuo. elettroni Auger, retrodiffusi, raggi X caratteristici e dello spettro continuo. elettroni secondari, Auger, raggi X caratteristici e dello spettro continuo.

Nel SEM se la dimensione del fascio è piccola. si ha minore risoluzione e profondità di campo, ma l'immagine risente di effetti di rumore del segnale e risulterà sgranata. si ha minore risoluzione e profondità di campo e l'immagine è definita. si ha maggioe risoluzione, profondità di campo e l'immagine è definita. si ha maggiore risoluzione e profondità di campo, ma l'immagine risente di effetti di rumore del segnale e risulterà sgranata.

I rivelatori SSD nel SEM. sono costituiti da due semiconduttori a forma di anello di tipo P. sono costituiti da semiconduttori a forma di anello con una giunzione P-N. sono costituiti da due semiconduttori a forma di anello di tipo N. sono costituiti da semiconduttori piani con una giunzione P-N.

I rivelatori ETD nel SEM rilevano gli elettoni secondari. che irraggiano lo scintillatore. in funzione dell'emissione di luce da cui si risale al numero di elettroni secondari. che irraggiano lo scintillatore e ne provocano l'emissione di luce da cui si risale al numero di elettroni secondari. discriminando quelli retrodiffusi.

I rivelatori SSD nel SEM. rivelano gli elettroni secondari che formando coppie elettroni-lacuna vengono separate dal campo elettrico e raccolte dagli elettrodi. rivelano gli elettroni retrodiffusi che formando coppie elettroni-lacuna vengono separate dal campo elettrico e raccolte dagli elettrodi. rivelano gli elettroni retrodiffusi dagli elettrodi a semiconduttori. rivelano gli elettroni secondari che formando coppie elettroni-lacuna vengono separate dal campo magnetico e raccolte dagli elettrodi.

Le immagini SEM possono contenere. ombre dovute ad elettroni secondari con bassa energia. ombre a seconda dell'orientazione del campione. ombre a seconda dell'orientazione del campione rispetto al rivelatore. ombre dovute ad elettroni generati in zone mascherate al rivelatore a seconda dell'orientazione del campione.

La preparazione di un campione isolante al SEM prevede. la metallizzazione per sputtering. la metallizzazione per evaporizzazione. la metallizzazione per sputtering o per evaporizzazione. la metallizzazione per bombardamento.

La tecnica EDS nella microscopia elettronica. rivela i raggi X in funzione della loro lunghezza d'onda tramite un rivelatore a semiconduttore. rivela i raggi X in funzione della loro energia dispersa tramite un rivelatore a ionizzazione. rivela i raggi X in funzione della loro energia dispersa tramite un rivelatore a semiconduttore. rivela i raggi X in funzione della loro lunghezza d'onda tramite un rivelatore a ionizzazione.

La tecnica WDS nella microscopia elettronica. rivela i raggi X provenienti da un monocromatore che seleziona le diverse lunghezze d'onda. rivela i raggi X provenienti dal campione e poi mandati in una camera di ionizzazione. rivela i raggi X provenienti dal campione e poi mandati su un monocromatore. rivela i raggi X provenienti dal campione e poi mandati su un monocromatore che seleziona le diverse lunghezze d'onda e le trasferisce ad un contatore.

I campi d'impiego dei microscopi elettronici sono compresi. 100 micron - 0,1 nm. 100 micron - 100 nm. 10 micron - 10 nm. 10 micron - 1 Angstrom.

Con il TEM sono possibili ingrandimenti. 50 - 10^8 x. 50 - 10^5 x. 500 - 10^9 x. 500 - 10^6 x.

Nel TEM il cannone ad emissione termoionica estrae. elettroni da una superficie riscaldata per effetto Joule da un filamento di W o di LaB6 e poi sono accelerati da un'elevata tensione elettrica. elettroni da un filamento di W o di LaB6 a 2800 K. elettroni accelerati per riscaldamento di un filamento di LaB6. elettroni secondari ad alta energia per riscaldamento ad effetto Joule di un filamento di W.

Nel TEM il cannone ad emissione di campo genera. elettroni per effetto joule da una superficie riscaldata a cui è applicato un campo elettrico. elettroni per effetto vuoto-lacuna da una superficie a cui è applicato un campo elettrico. elettroni per effetto tunnel da una superficie a cui è applicato un campo elettromagnetico in presenza di vuoto. elettroni per effetto tunnel da una superficie a cui è applicato un campo elettrico in presenza di un vuoto spinto.

La preparazione dei campioni per il TEM prevede. pulitura, lucidatura con una soluzione contenente polvere diamantata, inglobatura o incollaggio sul portacampioni del microscopio. pulitura, lappatura, lucidatura con una soluzione contenente polvere diamantata, inglobatura o incollaggio sul portacampioni del microscopio. lappatura, lucidatura con una soluzione contenente polvere diamantata, inglobatura o incollaggio sul portacampioni del microscopio. pulitura, lappatura, inglobatura o incollaggio sul portacampioni del microscopio.

Nel TEM il campione dopo la pulitura. può essere tagliato con fascio ionico per saldarlo sul portacampioni del microscopio. può essere tagliato con fascio ionico per ridurlo in lamelle secondo varie sezioni da saldare sul portacampioni del microscopio. può essere tagliato con ultramicrotomo per incollarlo sul portacampioni del microscopio. può essere tagliato con ultramicrotomo per ridurlo in lamelle da posizionare sul portacampioni del microscopio.

Gli elettroni secondari danno la massima risoluzione. perché dipendono dal diametro del fascio incidente, dalla profondità di campo e dalla lunghezza d'onda della radiazione incidente. perché sono funzione dell'energia del fascio incidente e dalla profondità di campo. perché sono più numerosi degli elettroni retrodiffusi e si diffondono più in profondità. perché sono collimati dal rivelatore Everhart-Thornley.

Gli elettroni backscattered. hanno un'energia di poco inferiore all'energia incidente e danno informazioni sulla composizione media del campione (Z compositional contrast). hanno un'energia funzione della densità del materiale e danno informazioni sulla composizione del campione (Z compositional contrast). hanno un'energia molto inferiore all'energia incidente e danno informazioni sulla composizione media del campione. hanno un'energia funzione del diametro del fascio incidente e danno informazioni sulla composizione del campione (Z compositional contrast).

Le interazioni anelastiche sono regolate dall'equazione di Bathe. dE/ds = S? cioè il percorso di diffusione dell'elettrone primario è inversamente proporzionale al numero atomico. dE/ds = S? cioè il percorso di diffusione dell'elettrone primario è direttamente proporzionale al numero atomico. dS/ds = E? cioè il percorso di diffusione dell'elettrone primario è direttamente proporzionale al numero atomico. dS/d? = Es cioè il percorso di diffusione dell'elettrone primario è inversamente proporzionale al numero atomico.

Le interazioni elastiche tra elettrone e materia. crescono al crescere del numero atomico dando elettroni secondari. crescono al diminuire del numero atomico dando elettroni retrodiffusi, invece al crescere del numero atomico gli elettroni deviano dal loro percorso diffondendosi di più all'interno del campione. crescono al crescere del numero atomico dando elettroni retrodiffusi, invece al diminuire del numero atomico gli elettroni deviano dal loro percorso diffondendosi di più all'interno del campione. diminuiscono al crescere del numero atomico dando elettroni retrodiffusi, invece al diminuire del numero atomico gli elettroni deviano dal loro percorso diffondendosi di più all'interno del campione.

La produzione di elettroni Auger richiede. basse correnti di fascio, è limitata ai primi strati superficiali pari a pochi nm e presenza di ultra vuoto. basse correnti di fascio, è limitata ai primi strati superficiali pari a pochi nm e dipende dalla lunghezza d'onda. elevate correnti di fascio e profondità di campo in presenza di alto vuoto. elevate correnti di fascio, è limitata ai primi strati superficiali pari a pochi nm, dipende dal libero cammino medio tra urti anelastici e presenza di vuoto spinto.

Gli assottigliatori sono. in grado di asportare gli strati di decine di nm con bombardamento ionico di Ar. in grado di asportare gli strati superficiali per RF sputtering. in grado di ridurre lo spessore del campione con un taglio laser. in grado di asportare gli strati superficiali con bombardamento ionico di gas nobili.

Il TEM permette. di lavorare con una serie di circonferenze concentriche di diffrazione. di lavorare con apertura intorno al fascio diretto (campo chiaro) o con apertura intorno al fascio diffratto (campo scuro). di lavorare solo con apertura intorno al fascio diretto (campo chiaro). di lavorare solo con apertura intorno al fascio diffratto (campo scuro).

Gli spettri dei raggi X rivelati devono essere. corretti da fenomeni di aberrazione ed astigmatismo. corretti dai fenomeni di retrodiffusione, dall'assorbimento dei fotoni X da parte del campione. corretti dai fenomeni di retrodiffusione, dall'assorbimento dei fotoni X da parte del campione e da parte della fluorescenza. corretti dai fenomeni di diffusione secondaria, dall'assorbimento dei fotoni X da parte del campione e da parte della fosforescenza.

Il TEM ad alta risoluzione fornisce. informazioni sulla struttura dei campioni attraverso l'interferenza dei fasci diffratti. informazioni sulla struttura cristallina di campioni metallici attraverso l'immagine di diffrazione. informazioni sulla struttura dei campioni attraverso l'immagine di diffrazione e dall'interferenza dei fasci diffratti. informazioni sulla struttura dei campioni attraverso l'immagine di diffrazione.

Il contrasto di fase nel TEM è generato. da lenti poste in modo che si abbia interferenza tra il fascio trasmesso e il fascio diffuso così da ottenere informazioni sulla struttura atomica. da lenti poste in modo che si abbia interferenza tra i fasci trasmessi così da ottenere informazioni sulla struttura atomica. da lenti poste in modo che si abbia interferenza tra il fascio trasmesso e alcuni diffratti così da ottenere informazioni sulle distanze interplanari. dalla differenza di cammino ottico tra fasci diretti.

Il contrasto d'ampiezza nel TEM dipende. dal grado di diffusione del campione. dal grado di cristallinità del campione. dal numero atomico, dalla densità del campione, dallo spessore e dallo scattering. dalla densità del campione, dallo spessore e dallo scattering.

Il contrasto di diffrazione nel TEM dipende. dallo scattering coerente elastico legato alla legge di Bragg ed è presente in campioni cristallini. dallo scattering coerente elastico legato alla legge di De Broglie ed è presente in campioni cristallini e amorfi. dalla zona scura selezionata in campioni cristallini in cui sono presenti singoli spot di diffrazione. dalla zona scura selezionata in cui sono presenti molti picchi di diffrazione.

La legge di Lambert-Beer è applicabile. per soluzioni poco concentrate e per radiazioni monocromatiche. per soluzioni poco diluite e per radiazioni monocromatiche. per soluzioni molto concentrate e per radiazioni monocromatiche. per soluzioni diluite e per radiazioni policromatiche.

Determina il cammino ottico sapendo che l'assorbanza a 280 nm è 0,80 il coefficiente di estinzione molare è 12500 M-1 cm-1 e la concentrazione è 8,6 x 10-5 M. 7,4 cm. 0,074 cm. 74,4 mm. 0,744 cm.

La legge di Lambert-Beer esprime. la diretta proporzionalità tra l'assorbanza e la concentrazione molare di una soluzione in funzione del cammino ottico della radiazione. la proporzionalità inversa tra la trasmittanza e la concentrazione molare di una soluzione in funzione della lunghezza d'onda della radiazione. la diretta proporzionalità tra la trasmittanza e la concentrazione molare di una soluzione in funzione del cammino ottico della radiazione. la diretta proporzionalità tra la trasmittanza e la concentrazione molare di una soluzione in funzione della lunghezza d'onda della radiazione.

Le analisi qualitative e quantitative delle spettroscopie di emissione e di assorbimento sono funzione. rispettivamente delle lunghezze d'onda e dell'intensità delle radiazioni. rispettivamente dell'intensità e delle lunghezze d'onda delle radiazioni. rispettivamente dell'energie e dell'intensità delle radiazioni. rispettivamente dell'intensità e dell'energie delle radiazioni.

Lo spettro dell'UV-Vis è compreso tra. 10 - 800 micron. 300 - 800 micron. 10 - 800 nm. 300 - 800 nm.

I reticoli di trasmissione negli spettrometri UV-Vis sono. costituiti da una serie di solchi paralleli tracciati sopra una superficie riflettente, piana o concava. costituiti da alcune microfenditure praticate su una superficie rivestita da Al. costituiti da un elevato numero di microfenditure praticate su una superficie rivestita da Al. costituiti da una serie di solchi paralleli su una superficie rivestita da Zn.

Cosa sono i dinodi?. Sono superfici presenti nei fotomoltiplicatori, elettronicamente attive tanto da produrre un numero elevato di elettroni in funzione dei fotoni incidenti e della d.d.p. applicata su di essi. Sono superfici presenti nei fotodiodi, elettronicamente attive tanto da produrre un numero elevato di elettroni in funzione dei fotoni incidenti e della d.d.p. applicata su di essi. Sono superfici presenti nei monocromatori, elettronicamente attive tanto da produrre un numero elevato di elettroni. Sono superfici di Si e di Ge presenti nei fotodiodi, elettronicamente attive tanto da produrre un numero elevato di elettroni e far variare la d.d.p.

Le sorgenti impiegate nella regione del UV sono. lampade al deuterio. lampade a scarica di xeno. lampade a filamento di tungsteno. lampade tungsteno-alogeno.

I reticoli sono. monocromatori che separano la luce policromatica in monocromatica. monocromatori che trasmettono radiazioni con energie superiori rispetto a quelle incidenti. monocromatori che assorbono parte della radiazione incidente e ne trasmettono un ampia gamma. monocromatori che scindono la luce monocromatica in policromatica.

Lo spettrometro UV-Vis è composto da. campione, sorgente, monocromatore, rivelatore. sorgente, campione, monocromatore, rivelatore. sorgente, campione, rivelatore, monocromatore. sorgente, monocromatore, campione, rivelatore.

Lo spettrofofotometri UV-Vis con rivelatore a serie di diodi. è uno spettrometro monoraggio in cui il campione è posto dopo il policromatore, che scompone la radiazione dirigendola verso il rivelatore contenente più di 1000 diodi. è uno spettrometro a doppio raggio in cui il campione è posto prima del policromatore, che scompone la radiazione dirigendola verso il rivelatore contenente più di 1000 diodi. è uno spettrometro monoraggio in cui il campione è posto prima del policromatore, che scompone la radiazione dirigendola verso il rivelatore contenente più di 1000 diodi. è uno spettrometro a doppio raggio in cui il campione è posto prima del monocromatore, che scompone la radiazione dirigendola verso il rivelatore contenente più di 1000 diodi.

Lo spettrofotometro UV-Vis a doppio raggio. analizza il raggio proveniente dal monocromatore tramite un colorimetro dirigendolo verso le cuvette dello standard e del campione. sdoppia il raggio proveniente dal monocromatore tramite uno specchio o un chopper dirigendolo verso le cuvette dello standard e del campione. analizza il raggio proveniente dal monocromatore tramite un colorimetro dirigendolo verso le cuvette dello standard e del campione, introdotte uno per volta. sdoppia il raggio proveniente dal filtro tramite uno specchio o un chopper dirigendolo verso le cuvette dello standard e del campione.

La spettrofotometria IR. dà informazioni sulla composizione, struttura molecolare, purezza, forze di legame di un composto per lunghezze d'onda 0,78 micron - 104 micron. dà informazioni sulla composizione, struttura molecolare, purezza, forze di legame di un composto per lunghezze d'onda 78 nm - 106 nm. dà informazioni sulla composizione, struttura molecolare, purezza, forze di legame di un composto per lunghezze d'onda 7,8 micron - 103 micron. dà informazioni sulla composizione, struttura molecolare, purezza, forze di legame di un composto per lunghezze d'onda 780 nm - 106 nm.

In quali condizioni si verifica assorbimento IR?. quando la variazione del momento di dipolo e del numero quantico sono diversi da zero producendo principalmente vibrazioni molecolari di stretching e di bending. quando la variazione del momento di dipolo è uguale a zero e quella del numero quantico è diversa da zero producendo principalmente vibrazioni molecolari di stretching e di bending. quando la variazione del momento di dipolo è diversa da zero e quella del numero quantico è uguale a zero producendo principalmente vibrazioni molecolari di stretching e di bending. quando la variazione del momento di dipolo e del numero quantico sono uguali a zero producendo principalmente vibrazioni molecolari di stretching e di bending.

Una banda di assorbimento è caratterizzata da. intensità, forma, frequenza. intensità, forma, posizione. intensità, larghezza, lunghezza d'onda. intensità, forma, lunghezza d'onda.

Nella spettrometrai IR tra i vari tipi di rivelatori è presente il bolometro ch. misura la radiazione trasmessa tramite due termocoppie in cui al variare della temperatura indotta dal raggio varia la tensione. misura la radiazione trasmessa tramite resistenze ricoperte di Mn, Co, Cu e Ni che variano al crescere della temperatura indotta dal raggio. misura la radiazione incidente tramite un ponte di Wheatstone in cui la variazione delle resistenze è dovuta alla variazione della temperatura indotta dal raggio. misura la radiazione incidente tramite un ponte di Wheatstone in cui la variazione della d.d.p. è dovuta alla variazione della temperatura indotta dal raggio.

Gli spettrofotometri IR a dispersione hanno. il monocromatore posizionato tra la sorgente e il campione, seguito da un rivelatore e sistema di elaborazione segnale. il campione e lo standard posizionati tra la sorgente e il monocromatore, che a sua volta è preceduto da un sistema di specchi per riflettere meglio i raggi. il campione e lo standard posizionati tra la sorgente e l'interferometro, che a sua volta è seguito da un sistema di specchi e non di lenti per riflettere meglio i raggi IR. il monocromatore posizionato tra la sorgente e il campione e lo standard, che a sua volta è preceduto da un sistema di specchi e non di lenti per riflettere meglio i raggi IR.

Per analizzare i campioni gassosi nell'IR si. utilizzano cuvette in NaCl o KBr con due finestre trasparenti all'IR in modo da aspirare il gas. utilizzano cuvette in pyrex con due rubinetti e due finestre trasparenti all'IR in modo da aspirare il gas mentre si crea il vuoto. utilizzano cuvette in NaCl con due finestre trasparenti all'IR in modo da aspirare il gas in presenza del vuoto. utilizzano cuvette in pyrex con due rubinetti in modo da aspirare il gas da uno e dall'altro creare il vuoto.

Negli spettrofotometri FT-IR. l'interferometro varia l'intensità del fascio proveniente dalla sorgente prima di colpire il campione. l'interferometro sdoppia il fascio proveniente dalla sorgente con interferenze costruttive o distruttive dando luogo alle frange di interferenza. il policromatore sdoppia il fascio proveniente dalla sorgente con interferenze costruttive o distruttive dando luogo alle frange di interferenza. il monocromatore varia l'intensità del fascio proveniente dalla sorgente prima di colpire il campione.

Nella spettrofotometria IR per preparare campioni solidi si utilizzano sospensioni in fase liquida o dispersione in fase solida. In cosa differiscono?. nella dispersione in fase solida disciolto in un solvente viene posto in una cella per liquidi; mentre nella fase liquida si prepara un'emulsione ad basso assorbimento IR. nella dispersione in fase solida disciolto il campione disciolto in un solvente viene posto in una cella per liquidi; mentre nella fase liquida si prepara un'emulsione ad alto assorbimento IR. nella dispersione in fase solida il campione finemente triturato viene posto in una cella per liquidi; mentre nella fase liquida si prepara un'emulsione ad basso assorbimento IR. la dispersione in fase solida dopo una macinazione molto fine del campione in presenza di un mezzo disperdente si sottopone ad una pressa pastigliattrice; mentre nella fase liquida si prepara un'emulsione a basso assorbimento IR.

Nella spettrofotometria IR per campioni liquidi si utilizzano. solventi come il disolfuro di C o CHCl3 perché assorbono in zone ristrette e note. solventi come il disolfuro di C o CHCl3 perché assorbono in zone con lunghezze d'onda >3000 cm^-1 . solventi come il CCl3 o CHCl3 perché assorbono in zone note a basse lunghezze d'onda. solventi come il disolfuro di Na o CHCl3 perché assorbono in zone ristrette e note.

Negli spettrofotometri FT-IR se lo specchio mobile si sposta di 3/2 ?. si avrà interferenza distruttiva. non si avrà interferenza. si avrà interferenza costruttiva. lo specchio può muoversi solo per lunghezze intere.

L'analisi quantitativa dello spettro IR è influenzata da tre fattori. lunghezza d'onda del campione, spessore della cella e assorbanza netta. frequenza di lavoro, spessore della cella e assorbanza max. frequenza di lavoro, spessore della cella e assorbanza %. lunghezza d'onda del campione, spessore della cella e assorbanza di base.

Nello spettro IR di una sostanza si distinguono la zona delle impronte digitali e dei gruppi funzionali per valori. rispettivamente inferiori e superiori alla frequenza di 1400 cm^-1. rispettivamente tra 1000-1400 cm^-1 e 1400- 4000 cm ^-1. rispettivamente tra 1400- 4000 cm^-1 e 1000-1400 cm ^-1. rispettivamente superiori e inferiori alla frequenza di 1400 cm^-1.

Si definisce chemical shift. la frequenza di risonanza di un 1H. la variazione tra frequenze assorbite e frequenze trasmesse. la variazione della frequenza di risonanza funzione dell'intorno atomico (più o meno elettronegativo) di un protone. lo spostamento chimico in funzione della lunghezza d'onda incidente.

L'equazione fondamentale della NMR afferma. che la frequenza di risonanza è data dal rapporto tra il campo magnetico esterno e il rapporto giromagnetico. che la frequenza di risonanza è data dal rapporto tra il campo magnetico esterno per il rapporto giromagnetico diviso 2p. che la frequenza di risonanza è data dal rapporto tra il campo magnetico esterno e il numero quantico di spin. che la frequenza di risonanza è data dal rapporto tra il momento magnetico esterno e il rapporto giromagnetico.

Si ha assorbimento di radiofrequenze se il numero quantico di spin. assume valori interi o frazionari. assume valori diversi da zero. assume valori frazionari. assume valori nulli.

La spettroscopia di risonanza magnetica nucleare (NMR). permette di determinare la struttura di una sostanza organica irradiando a lunghezze d'onda tra 10- 1000 cm. permette di determinare la struttura di una sostanza organica irradiando frequenze tra 10^5 - 10^10 Hz. permette di determinare la struttura di una sostanza organica irradiando a lunghezze d'onda tra 10^5- 10^10 micron. permette di determinare la struttura di una sostanza organica irradiando a lunghezze d'onda tra 10^5- 10^10 micron.