0201. Il confronto tra il valor medio e il valore vero è espresso da: esattezza precisione accuratezza sensibilità.
0301. Le età di un gruppo di amici sono: 22,25,25,25,23,23,24,23,25,25,23,24. Calcolare la frequenza relativa per ogni classe. Fr(22) = 0,08; Fr(23) = 0,23; Fr(24) = 0,27; Fr(25) = 0,42. Fr(22) = 0,08; Fr(23) = 0,23; Fr(24) = 0,57; Fr(25) = 0,12. Fr(22) = 0,08; Fr(23) = 0,33; Fr(24) = 0,17; Fr(25) = 0,42. Fr(22) = 0,08; Fr(23) = 0,23; Fr(24) = 0,37; Fr(25) = 0,32.
0302. L'analisi statistica quantifica e valuta gli: errori sistematici errori ambientali errori casuali errori di metodo.
0401. Ho l'80% di probabilità che l'età media di una popolazione cada in un intevallo di fiducia i cui estremi saranno ±1,29 ? ±1,64 ? ±1,69 ? ±1,79 ?.
0402. La deviazione standard misura la distanza dalla media ed indica la dispersione della variabile casuale intorno alla media. misura la distanza dalla moda ed indica la dispersione della variabile intorno alla media. indica la deviazione della variabile intorno alla media. indica la frequenza di dispersione delle variabile intorno alla media.
0501. La f.e.m. di una pila è data dalla differenza tra elettrodo a potenziale negativo su cui avviene la riduzione e l'elettrodo a potenziale positivo su cui avviene l'ossidazione. differenza tra elettrodo a potenziale maggiore su cui avviene la riduzione e l'elettrodo a potenziale minore su cui avviene l'ossidazione. differenza tra elettrodo a potenziale maggiore su cui avviene l'ossidazione e l'elettrodo a potenziale minore su cui avviene la riduzione. differenza tra elettrodo a potenziale maggiore (anodo) e l'elettrodo a potenziale minore (catodo).
0502. In una soluzione di ioni Fe3+ + e = Fe2+ è immerso un filo di Pt. Il potenziale elettrodico è E = E° + (RT/n) ln (Fe3+/Fe2+) E = E° + (RT/F) ln (Fe3+/Fe2+) E = E° + (RT/nF) ln (Fe2+/Fe3+) E = E° + (RT/n) ln (Fe2+/Fe3+).
0503 Data una pila Pb/Ni calcolare la concentrazione degli ioni Ni2+ perché la f.e.m. della pila sia nulla; sapendo che E0Pb2+ /Pb = -0,13V; E0Ni2+/Ni = -0,23V; i coefficienti di attività sono nulli e [Pb2+] = 0,001M 0,33 M 1535,58 M 2,14 M 2,41 M.
0504. Una lamina di Pt in una soluzione di ioni ferrici e ferrosi è un elettrodo di 1° specie elettrodo di 2° specie elettrodo di 4° specie elettrodo di 3° specie.
0601. In presenza di una soluzione di analita a T = 90°C per misurare il potenziale elettrodico si impiega come elettrodo di riferimento un elettrodo a Ag/AgCl un elettrodo a pH un elettrodo a gas un elettrodo a calomelano.
0602. Le misure di pH di una soluzione a concentrazione sconosciuta si effettuano misurando la f.e.m. dell'elettrodo di riferimento quando è immerso nella soluzione incognita le differenze di potenziale tra le soluzioni la f.e.m. quando è immerso in una soluzione standard a pH noto. una f.e.m. dell'elettrodo a vetro più quello di riferimento quando sono immersi nella soluzione incognita e
l'altra f.e.m. misurata quando è immerso in una soluzione standard a pH noto.
0603. Il glucometro è un elettrodo a membrana biocatalitica elettrodo a vetro elettrodo gas selettivo elettrodo ad Ag/AgCl.
0604. Negli elettrodi a vetro per la misura di pH il potenziale di membrana dipende dalle differenti superfici a contatto e dalla differente attività di ioni H+ nelle due soluzioni a contatto con la membrana dal potenziale interno e esterno dalla differente attività di ioni H+ nelle due soluzioni a contatto con la membrana dalle differenti superfici a contatto.
0701. In voltammetria affinchè il processo di scarica a potenziale costante avvenga più rapidamente è necessario che la velocità di scambio degli elettroni tra eletrodo e soluzione sia di gran lunga superiore rispetto a quella con cui la specie chimica arriva all'elettrodo la velocità di scambio degli elettroni tra eletrodo e soluzione sia tale da eguagliare il potenziale riducente dell'elettrodo la velocità con cui la specie chimica arriva all'elettrodo sia di gran lunga superiore rispetto a quella di scambio degli elettroni tra eletrodo e soluzione la velocità di scambio degli elettroni tra eletrodo e soluzione sia minore superiore rispetto a quella con cui la specie chimica arriva all'elettrodo.
0702. La voltammetria permette di determinare quantativamente le specie chimiche in soluzione, come tracce di metalli pesanti, di sostanze organiche misurare il passaggio di corrente tra due specie chimiche in soluzione misurare qualitativamente e specie chimiche in soluzione, come tracce di metalli pesanti, di sostanze organiche misurare la d.d.p. tra due elettrodi.
0703. Il ciruito potenziostatico misura la tensione circolante nella cella tra working e auxiliary electrode la corrente circolante nella cella tra working e reference electrode la tensione circolante nella cella tra working e reference electrode la corrente circolante nella cella tra working e auxiliary electrode.
0704. La cella di misura di un voltametro è composta da: working electrode, reference electrode, auxiliary electrode waged electrode, reference electrode, auxiliary electrode operating electrode, referenced electrode,auxiliary electrode working electrode, reference electrode, auxilium electrode.
0705. In voltammetria una specie elettrochimica è soggetta ad un processo di scarica a potenziale variabile, il processo avverrà se il processo di scarica all'elettrodo avviene per diffusione o quando il processo di scarica è regolato sia dalla diffusione che dalla velocità di trasferimento degli elettroni. il processo di scarica all'elettrodo avviene per diffusione, per sovratensione o quando il processo di scarica è regolato sia dalla diffusione che dalla velocità di trasferimento degli elettroni. il processo di scarica all'elettrodo avviene per sovratensione o quando il processo di scarica è regolato sia dalla diffusione che dalla velocità di trasferimento degli elettroni. il processo di scarica all'elettrodo avviene per diffusione o per sovratensione.
0801. In coulombometria aumentando la d.d.p. si rischia che si dissolvano altre spechie chimiche in soluzione allora si ricorre potenziometri a tre elettrodi nessuna delle tre precedenti potenziometri a potenziale costante ad un integratore.
0802. L'equivalente elettrochimico ? in coulombometria è pari: MM/96485n MM/96485 ME/96485n nessuna delle tre precedenti.
0803. Lo spessore di rivestimento su di una superficie può essere determinato con misure coulombometriche: h = m/S h = m/Sd h = m/Vd nessuna delle tre precedenti.
0804. La coulombometria determina la carica che attraversa il circuito durante il processo di dissoluzione la massa misurando la carica che attraversa il circuito durante la scarica la tensione misurando la massa che attraversa il circuito durante la scarica la corrente per dissolvere da una superficie nota un certo quantitativo di sostanza depositato senza intaccare il metallo sottostante.
0901. L'evoluzione del peso di un campione soggetto ad un'analisi termo-gravimetrica è soggetta a due tipo di controllo: isobarico e con T crescente è soggetta a due tipo di controllo: isotermico o isobarico è soggetta a due tipo di controllo: isotermico o con T crescente nessuna delle condizioni esposte.
0902. Nel termogramma di un polimero la velocità della perdita di peso corrisponde ad un nessuna delle tre picco ad una rampa a gradino flesso.
0903. Nel termogramma di un polimero la perdita di peso corrisponde ad un flesso picco picco max picco minimo.
0904. Nella TGA dell'ossalato di calcio monoidrato CaC2O4 + H2O aumentando la temperatura con una velocità di 5 °C/min la prima sostanza che si perde è acqua carbonato di calcio monossido di carbonio anidride carbonica.
0905. Nella TGA l'uso di gas nella fornace non è necessario serve a pulire il forno alla fine della misura assicura un'atmosfera inerte serve a spurgare il forno, ad evitare l'ossidazione del campione e a diffondere il calore in ogni punto.
0906. La strumentazione della TGA si compone principalmente di: Sistema spurgo gas e termocoppia Bilancia e termocoppia Portacampione, forno, sistema spurgo gas Forno e bilancia.
0907. Le curve termogravimetriche riportano la perdita di massa in funzione della T o del tempo la percentuale di massa in funzione della pressione e della T il peso a Tambiente la velocità di perdita dei componenti in funzione della T.
0908. Cosa è la TGA? è una tecnica in cui si determinano i componenti di una miscela e i loro pesi al variare di T è una tecnica in cui si misura la variazione di temperatura di un grave è una tecnica in cui si misura la caduta di un grave al variare di T è un'analisi termica quantitativa in cui si misura la variazione di peso di un materiale, quando esso viene riscaldato, in atmosfera controllata.
0909. I picchi della DTA esprimono i cambiamenti fisici e le reazioni chimiche indotte dalle variazioni di T del campione processi endotermici ed esotermici a cui è sottoposto il campione vs variazioni di volume le reazioni di ossidazione le transizioni di fase.
0910. In un termogramma si riporta delta E vs delta V delta T vs Triferimento delta V vs Tcampione delta T vs Tcampione.
0911. La DTA avviene in una bilancia a T ambiente Una camera termica in presenza di argon Un recipiente riscaldato e chiusoermeticamente Un forno in atmosfera controllata.
0912. Qual è lo strumento più semplice dell'analisi termica? Il termometro Il tester digitale La termocoppia Un forno riscaldato elettricamente.
1001. Il fenomeno del creep nei polimeri è dovuto allo scorrimento delle lunghe catene molecolari le une sulle altre al crescere di T e del carico applicato al movimento di vuoti o difetti nella struttura cristallina al crescere della T e del carico applicato al passaggio da fase cristallina ad amorfa al crescere di T nessuna delle tre precedenti.
1002. L'analisi TermoMeccanica determina il coefficiente di espansione termica dei materiali quando sono sottoposti a carico il modulo elastico dei polimeri sottposti a carico costante e a gradiente di T le variazioni di T dei materiali se sottoposti a carico. le caratteristiche meccaniche dei materiali misurando variazioni dimensionali al crescere della T e se sottoposti a carico.
1003. Il fenomeno del creep nei metalli è dovuto al movimento di vuoti o difetti nella struttura cristallina al crescere della T e del carico applicato nessuna delle tre precedenti al scorrimento delle molecole al crescere della T e del carico applicato al movimento di vuoti o difetti nella struttura amorfa al crescere della T e del carico applicato.
1004. Nella prova Izod si misura la resistenza all'impatto. il provino intagliato è appoggiato e si misura l'energia sprigionata dalla frattura il provino intagliato è incastrato da una parte e si misura la resistenza all'impatto in base all'energia sprigionata dalla frattura il provino intagliato è appoggiato e si misura la resistenza all'impatto in base all'energia sprigionata dalla frattura.
1005. Le prove a fatica sono prove meccaniche in cui il carico, inferiore al limite elastico, è applicato tramite una traversa con movimento servoidraulico sono prove dinamiche in cui il carico, inferiore al limite elastico, è applicato tramite una traversa con movimento servoidraulico sono prove meccaniche cicliche in cui il carico è applicato tramite una traversa con movimento elettromeccanico sono prove dinamiche in cui il carico, inferiore al limite elastico, è applicato tramite una traversa con movimento elettromeccanico.
1101. Cosa si intende per temperatura di partenza in un termogramma DSC? La temperatura di partenza è data dall'intersezione di due linee tangenti, l'una tangente alla linea di base e l'altra tangente al tratto di curva pendente in corrispondenza di una transizione. La temperatura di partenza è data dall'intersezione tra la linea tangente alla linea di base e l'altra ortogonale all'asse y La temperatura di partenza è data dall'intersezione tra la linea tangente alla linea di base e l'altra in corrispondenza del punto di flesso della curva calorimetrica La temperatura di partenza è data dall'intersezione tra la linea tangente al tratto di curva pendente in corrispondenza di una transizione e la perpendicolare all'asse delle.
1102. La calorimetria a scansione differenziale misura La quantità di calore assorbita o ceduta da un campione in fase di riscaldamento o raffreddamento. La quantità di calore assorbita da un campione in fase di riscaldamento La differenza di temperatura tra il campione da analizzare e il campione di riferimento La quantità di calore ceduta da un campione in fase di raffreddamento.
1103. La cristallizzazione in una scansione differenziale è rappresentata da un punto di flesso da un picco endotermico da un picco esotermico dalla differenza tra due picchi esotermici.
1104. Il grado di cristallinità con la DSC è dato dal rapporto tra l'entalpia di fusione del campione e l'entalpia di una sostanza totalmente cristallina dal rapporto tra l'entalpia di fusione del campione e l'entalpia di una sostanza semicristallina dal rapporto tra il calore specifico del campione e quello di una sostanza totalmente cristallina dal rapporto tra l'entalpia di cristallizzazione del campione e quella corrispondente di una sostanza totalmente cristallina.
1105. L'area sottesa da un picco durante una misura DSC rappresenta il calore ceduto durante la reazione e da cui poter ricavare il calore specifico rappresenta l'entalpia di reazione, ovvero il calore assorbito o ceduto durante la reazione e da cui poter ricavare il calore specifico rappresenta lo scambio di calore tra campione e riferimento rappresenta il calore assorbito durante la reazione e da cui poter ricavare il calore specifico.
1201. L'aberrazione astigmatica è quella in cui per un punto oggetto si producono una serie di immagini a diversa distanza dalla lente a seconda dell'apertura Il punto oggetto produce una serie di punti immagine a diversa distanza dalla lente per un punto-oggetto fuori asse, si ha una serie di punti-immagine di cui al massimo uno sarà a fuoco, mentre gli altri saranno sfocati ed a diversa distanza dall'asse. Il punto oggetto produce due immagini allungate, a diversa distanza dalla lente, una disposta radialmente, l'altra tangenzialmente.
1202. Se l'oggetto è a distanza inferiore al punto focale l'immagine dell'oggetto è capolvolta ed ingrandita l'immagine dell'oggetto è ribaltata e rimpicciolita l'immagine dell'oggetto è dritta ed ingrandita l'immagine dell'oggetto è ribaltata.
1203. La distanza focale è 1/f = (n2 - n1/n1)(1/r1 + 1/r2) 1/f = (1/n2 - n1)(1/r1 + 1/r2) 1/f = (n1 - n2/n2)(1/r1 + 1/r2) 1/f = (n- 1)(1/r1 + 1/r2).
1204. Il microscopio composto è costituito da un oculare e un obiettivo; l'immagine dritta dell'oggetto deve cadere tra il primo fuoco dell'oculare e l'oculare stesso costituito da un oculare e un obiettivo; l'immagine capovolta dell'oggetto deve cadere tra il primo fuoco dell'oculare e l'oculare stesso costituito da un oculare e un obiettivo; l'immagine dell'oggetto deve cadere tra tra il primo fuoco dell'oculare e l'obiettivo stesso costituito da un oculare e un obiettivo; l'immagine ingrandita dell'oggetto deve cadere tra il primo fuoco dell'obiettivo e l'oculare stesso.
1205. La microscopia ottica indaga superfici dell'ordine di pochi nanometri nell'ambito di lunghezze d'onda tra i 400 e 700 nm. superfici dell'ordine di pochi nanometri nell'ambito di lunghezze d'onda tra i 400 e 10 nm. superfici dell'ordine di pochi micrometri nell'ambito dello spettro del visibile superfici dell'ordine di pochi nanometri nell'ambito dello spettro del visibile.
1301. Nella M.O. per avere in campo oscuro l'immagine è ottenuta da luce rdiffratta da un condensatore piano ottenuta da luce riflessa da un condensatore paraboloide ottenuta da luce diffratta da un condensatore paraboloide ottenuta da luce riflessa da un condensatore.
1302. La risoluzione di un microscopio migliora se NA è elevato, piccole lunghezze d'onda e minime distanze NA è elevato, grandi lunghezze d'onda e distanze NA è inferiore a 0,95, grandi lunghezze d'onda e distanze minime NA è basso, piccole lunghezze d'onda e distanze rilevabili.
1303. L'ingrandimento angolare in un microscopio ottico è il rapporto tra l'angolo con il quale vedo l'oggetto e l'angolo con il quale vedo l'oggetto all'infinito l'angolo con il quale vedo l'oggetto all'infinito e l'angolo con il quale vedo l'oggetto l'angolo con il quale vedo l'oggetto all'infinito e l'angolo con il quale vedo l'oggetto senza lente l'angolo con il quale vedo l'oggetto senza lente e l'angolo con il quale vedo l'oggetto all'infinito.
1304. In Microscopia ottica per avere basse diffrazioni si impiegano lenti piccole, angoli di apertura grandi e distanze prossime a l lenti piccole, angoli di apertura grandi e distanze grandi lenti grandi, angoli di apertura piccoli e distanze grandi lenti piccole, angoli di apertura piccoli e distanze prossime a l.
1305. La risoluzione di un microscopio è pari a d = 1.22 ?/ n sin ? d = 0.61 ?/sen ? d = 1.22 ?/ NA d = 0.61 ?/ NA.
1306. Se la dstanza dell'oggetto dalla lente del microscopio è compresa tra 2f e f, dove f è la distanza focale, l'immagine è ingrandita e capovolta rimpicciolita e capovolta ingrandita e virtuale ingrandita e non capovolta.
1401. Le immagini nei microscopi ottici in campo chiaro e incampo oscuro si basano sul contrasto per differenti ampiezze delle onde luminose contrasto per differenza delle lunghezze d'onda delle onde luminose contrasto per differenti ampiezze e sfasamenti delle onde luminose contrasto per differenza di fase delle onde luminose.
1402. Nel microscopio Normaski i due prismi Wollaston: Il primo prisma separa la luce polarizzata in fasci paralleli con cammini diversi; il secondo prisma ricombina i fasci in luce polarizzata linearmente. Il primo prisma separa la luce polarizzata in fasci paralleli con cammini diversi; il secondo prisma ricombina i fasci in luce polarizzata ellitticamente. Il primo prisma polarizza il fascio di luce; il secondo li separa in fasci paralleli. Il primo prisma separa la luce polarizzata in fasci paralleli; il secondo prisma ricombina i fasci in luce polarizzata.
1403. Il microscopio confocale è così chiamato perché la sorgente illumina il campione in un solo punto per volta ed è necessaria una scansione per formare l'immagine tridimensionale finale. per la presenza di due pinhole: uno nel filtro di eccitazione e l'altro in quello d'emissione. per la presenza di due pinhole su piani coniugati: uno nella sorgente di illuminazione e l'altro nell'obiettivo. per la presenza di due pinhole su piani coniugati: uno nella sorgente di illuminazione e l'altro in quella della rivelazione.
1501. Durante l'analisi con un polarimetro si introduce il campione nel tubo e si ruota l'analizzatore in modo da rilevare due semicerchi illuminati di luce gialla con la medesima intensità. si introduce il campione nel tubo e si ruota l'analizzatore in modo da rilevare nell'oculare due semicerchi di uguale intensità, mentre il nonio ci darà il valore dello spostamento angolare si introduce il campione nel tubo e si ruota l'analizzatore in modo da rilevare una condizione di penombra uniforme, mentre il nonio ci darà il valore dello spostamento angolare si introduce il campione nel tubo e si ruota l'analizzatore in modo da rilevare nell'oculare due semicerchi di diversa intensità, mentre il nonio ci darà il valore dello.
1502. Dati due filtri polarizzatori i cui assi di polarizzazione sono perpendicolari tra loro: il primo con asse orizzontale e il secondo con asse verticale Se il primo fa passare luce polarizzata verticalmente, il secondo permette il passaggio di luce orizzontalmente Se il primo fa passare luce polarizzata orizzontalmente, il secondo fa passare solo luce polarizzata verticalmente Se il primo fa passare luce polarizzata verticalmente, il secondo blocca il passaggio di luce Se il primo fa passare luce polarizzata orizzontalmente, il secondo blocca il passaggio di luce.
1503. Nei microscopi ottici a fluorescenza si ha che l'assorbimento della radiazione emessa è più grande di quella della radiazione assorbita la lunghezza d'onda della radiazione assorbita è più grande di quella della radiazione emessa la differenza di fase della radiazione emessa è più grande di quella della radiazione assorbita la lunghezza d'onda della radiazione emessa è più grande di quella della radiazione assorbita.
1504. Il filtro di sbarramento nel microscopio a fluorescenza seleziona solo le radiazioni assorbite provenienti dal campione seleziona solo le radiazioni IR provenienti dal campione seleziona solo le radiazioni provenienti dai cromogeni provenienti dal campione seleziona solo le radiazioni di lunghezza d'onda superiore ai 800 nm.
1601. Per evidenziare la microstruttura di una lega al microscopio ottico si sesegue un attacco chimico con nital non si sesegue un attacco chimico ma solo un lavaggio prima e dopo il taglio e la lucidatura si sesegue un attacco elettrolitico si sesegue un attacco chimico con picral.
1602. L'attacco metallografico può essere solo elettrolitco di tipo chimico ed elettrolitico nessuno dei tre casi precedenti di tipo chimico.
1603. Differenza tra montaggio a caldo e a freddo di un campione da analizzare al microscopio (DUBBIA): Il montaggio a caldo prevede la presenza di una resina che catalizzi ad alte temperature, mentre quello a freddo tramite incollaggio a temperatura ambiente Il montaggio a caldo prevede la presenza di una polvere che sinterizzi ad alte temperature, mentre quello a freddo in presenza di un elastomero a temperatura ambiente Il montaggio a caldo prevede la presenza di una resina che catalizzi ad alte temperature, mentre quello a freddo catalizza a tempertaura ambiente Il montaggio a caldo prevede la presenza di una polvere che sintetizzi ad alte temperature, mentre quello a freddo in presenza di una resina termoplastica.
1604. In M.O. il taglio EDM è praticato con un elettrodo laser che invia una scarica elettrica al campione che è immerso in un fluido dielettrico. con un elettrodo che invia una scarica elettrica al campione che è immerso in un fluido dielettrico. con un disco rotante in cui sono presenti particelle abrasive. con un elettrodo che invia una scarica elettrica al campione che è immerso in un fluido rifrigerante.
1701. Per un'analisi SEM a 970°C e 0,015 mbar si impiega come sorgente a emissione di campo a catodo caldo a monocristallo a esaborato di lantanio a emissione di campo a catodo freddo a filamento di W.
1702. Le lenti elettromagnetiche presenti nel SEM riducono il fascio elettronico, servono a scansionare il campione convergono il fascio elettronico riducendolo in un spot piccolo senza aberrazioi. convergono il fascio elettronico riducendolo in un spot piccolo, servono a scansionare il campione, riducendo il segnale convergono il fascio elettronico con dimensioni di 100 micron.
1703. Bisogna effettuare un'analisi cristallografica in cui si richiede un ingrandimento di 150 kX si impiega un microscopio a scansione elettronica microscopio confocale microscopio a contrasto di interferenza differenziale microscopio ottico.
1704. Nel SEM è importante creare un vuoto elevato per evitare la dispersione del fascio e per generare gli elettroni. per eliminare il 99,9% d'aria e per poter lavorare a pressioni di 1,33 mbar. per generare gli elettroni. per collimare il fascio elettronico.
1705. Le lenti finali nel SEM producono un campo magnetico lungo tutto la distanza che intercorre nei condensatori raccolgono le immagini scansionate permettono la scansione monodimensionale del fascio elettronico su una porzione d'area quadrata del campione permettono la scansione del fascio elettronico su una porzione d'area quadrata del campione nelle direzioni X e Y.
1801. Gli elettroni secondari diventano più numerosi se l'energia del fascio incidente è alta e se aumentano gli urti con gli elettroni retrodiffusi in funzione del numero atomico se l'energia del fascio incidente è bassa e se diminuiscono gli urti con gli elettroni retrodiffusi in funzione del numero atomico se l'energia del fascio incidente è alta e se diminuiscono gli urti con gli elettroni retrodiffusi in funzione del numero atomico se l'energia del fascio incidente è bassa e se aumentano gli urti con gli elettroni retrodiffusi in funzione del numero atomico.
1802. Gli elettroni secondari penetrano in superficie fino a 50 micron 0,05 mm 5 nm 50nm.
1803. Di quali elettroni si tratta se hanno pochi eV di energia e danno informazioni sulla composizione del campione? elettroni retrodiffusi elettroni trasmessi elettroni secondari elettroni Auger.
1804. Gli elettroni backscattered18 hanno intensità superiore agli elettroni secondari e danno informazioni sui materiali investigati in base al numero atomico hanno energia inferiore agli elettroni secondari e danno informazioni composizionali sui materiali investigati attraverso lo spessore hanno energia superiore agli elettroni secondari e danno informazioni sui materiali investigati in base al numero atomico hanno intensità superiore agli elettroni Auger e danno informazioni sui materiali investigati.
1805. Analizzando il segnale nel SEM troviamo elettroni secondari, retrodiffusi, raggi X caratteristici e dello spettro continuo elettroni secondari, Auger, retrodiffusi, raggi X caratteristici e dello spettro continuo elettroni Auger, retrodiffusi, raggi X caratteristici e dello spettro continuo elettroni secondari, Auger, raggi X caratteristici e dello spettro continuo.
1806. Nel SEM se la dimensione del fascio è piccola si ha minore risoluzione e profondità di campo, ma l'immagine risente di effetti di rumore del segnale e risulterà sgranata si ha minore risoluzione e profondità di campo e l'immagine è definita si ha maggioe risoluzione, profondità di campo e l'immagine è definita si ha maggiore risoluzione e profondità di campo, ma l'immagine risente di effetti di rumore del segnale e risulterà sgranata.
1901. I rivelatori SSD nel SEM sono costituiti da due semiconduttori a forma di anello di tipo P. sono costituiti da semiconduttori a forma di anello con una giunzione P-N. sono costituiti da due semiconduttori a forma di anello di tipo N. sono costituiti da semiconduttori piani con una giunzione P-N.
1902. I rivelatori ETD nel SEM rilevano gli elettoni secondari che irraggiano lo scintillatore. in funzione dell'emissione di luce da cui si risale al numero di elettroni secondari. che irraggiano lo scintillatore e ne provocano l'emissione di luce da cui si risale al numero di elettroni secondari. discriminando quelli retrodiffusi.
1903. I rivelatori SSD nel SEM rivelano gli elettroni secondari che formando coppie elettroni-lacuna vengono separate dal campo elettrico e raccolte dagli elettrodi. rivelano gli elettroni retrodiffusi che formando coppie elettroni-lacuna vengono separate dal campo elettrico e raccolte dagli elettrodi. rivelano gli elettroni retrodiffusi dagli elettrodi a semiconduttori. rivelano gli elettroni secondari che formando coppie elettroni-lacuna vengono separate dal campo magnetico e raccolte dagli elettrodi.
1904. Le immagini SEM possono contenere ombre dovute ad elettroni secondari con bassa energia. ombre a seconda dell'orientazione del campione. ombre a seconda dell'orientazione del campione rispetto al rivelatore. ombre dovute ad elettroni generati in zone mascherate al rivelatore a seconda dell'orientazione del campione.
2001. La preparazione di un campione isolante al SEM prevede la metallizzazione per sputtering la metallizzazione per evaporizzazione la metallizzazione per sputtering o per evaporizzazione la metallizzazione per bombardamento.
2002. La tecnica EDS nella microscopia elettronica rivela i raggi X in funzione della loro lunghezza d'onda tramite un rivelatore a semiconduttore rivela i raggi X in funzione della loro energia dispersa tramite un rivelatore a ionizzazione rivela i raggi X in funzione della loro energia dispersa tramite un rivelatore a semiconduttore rivela i raggi X in funzione della loro lunghezza d'onda tramite un rivelatore a ionizzazione.
2003. La tecnica WDS nella microscopia elettronica rivela i raggi X provenienti da un monocromatore che seleziona le diverse lunghezze d'onda rivela i raggi X provenienti dal campione e poi mandati in una camera di ionizzazione rivela i raggi X provenienti dal campione e poi mandati su un monocromatore rivela i raggi X provenienti dal campione e poi mandati su un monocromatore che seleziona le diverse lunghezze d'onda e le trasferisce ad un contatore.
2101. I campi d'impiego dei microscopi elettronici sono compresi (DUBBIA) 100 micron - 0,1 nm 100 micron - 100 nm 10 micron - 10 nm 10 micron - 1 Angstrom.
2102. Con il TEM sono possibili ingrandimenti 50 - 10^8 x 50 - 10^5 x 500 - 10^9 x 500 - 10^6 x.
2103. Nel TEM il cannone ad emissione termoionica estrae elettroni da una superficie riscaldata per effetto Joule da un filamento di W o di LaB6 e poi sono accelerati da un'elevata tensione elettrica elettroni da un filamento di W o di LaB6 a 2800 K elettroni accelerati per riscaldamento di un filamento di LaB6 elettroni secondari ad alta energia per riscaldamento ad effetto Joule di un filamento di W.
2104. Nel TEM il cannone ad emissione di campo genera elettroni per effetto joule da una superficie riscaldata a cui è applicato un campo elettrico elettroni per effetto vuoto-lacuna da una superficie a cui è applicato un campo elettrico elettroni per effetto tunnel da una superficie a cui è applicato un campo elettromagnetico in presenza di vuoto elettroni per effetto tunnel da una superficie a cui è applicato un campo elettrico in presenza di un vuoto spinto.
2105. La preparazione dei campioni per il TEM prevede (DUBBIA) pulitura, lucidatura con una soluzione contenente polvere diamantata, inglobatura o incollaggio sul portacampioni del microscopio pulitura, lappatura, lucidatura con una soluzione contenente polvere diamantata, inglobatura o incollaggio sul portacampioni del microscopio lappatura, lucidatura con una soluzione contenente polvere diamantata, inglobatura o incollaggio sul portacampioni del microscopio pulitura, lappatura, inglobatura o incollaggio sul portacampioni del microscopio.
2106. Nel TEM il campione dopo la pulitura può essere tagliato con fascio ionico per saldarlo sul portacampioni del microscopio può essere tagliato con fascio ionico per ridurlo in lamelle secondo varie sezioni da saldare sul portacampioni del microscopio può essere tagliato con ultramicrotomo per incollarlo sul portacampioni del microscopio può essere tagliato con ultramicrotomo per ridurlo in lamelle da posizionare sul portacampioni del microscopio.
2201. Gli elettroni secondari danno la massima risoluzione perché dipendono dal diametro del fascio incidente, dalla profondità di campo e dalla lunghezza d'onda della radiazione incidente perché sono funzione dell'energia del fascio incidente e dalla profondità di campo perché sono più numerosi degli elettroni retrodiffusi e si diffondono più in profondità perché sono collimati dal rivelatore Everhart-Thornley.
2202. Gli elettroni backscattered hanno un'energia di poco inferiore all'energia incidente e danno informazioni sulla composizione media del campione (Z compositional contrast) hanno un'energia funzione della densità del materiale e danno informazioni sulla composizione del campione (Z compositional contrast) hanno un'energia molto inferiore all'energia incidente e danno informazioni sulla composizione media del campione hanno un'energia funzione del diametro del fascio incidente e danno informazioni sulla composizione del campione (Z compositional contrast).
2203. Le interazioni anelastiche sono regolate dall'equazione di Bathe dE/ds = S? cioè il percorso di diffusione dell'elettrone primario è inversamente proporzionale al numero atomico dE/ds = S? cioè il percorso di diffusione dell'elettrone primario è direttamente proporzionale al numero atomico dS/ds = E? cioè il percorso di diffusione dell'elettrone primario è direttamente proporzionale al numero atomico dS/d? = Es cioè il percorso di diffusione dell'elettrone primario è inversamente proporzionale al numero atomico.
2204. Le interazioni elastiche tra elettrone e materia crescono al crescere del numero atomico dando elettroni secondari crescono al diminuire del numero atomico dando elettroni retrodiffusi, invece al crescere del numero atomico gli elettroni deviano dal loro percorso diffondendosi di più all'interno del campione crescono al crescere del numero atomico dando elettroni retrodiffusi, invece al diminuire del numero atomico gli elettroni deviano dal loro percorso diffondendosi di più all'interno del campione diminuiscono al crescere del numero atomico dando elettroni retrodiffusi, invece al diminuire del numero atomico gli elettroni deviano dal loro percorso diffondendosi di più all'interno del campione.
2301. La produzione di elettroni Auger richiede basse correnti di fascio, è limitata ai primi strati superficiali pari a pochi nm e presenza di ultra vuoto basse correnti di fascio, è limitata ai primi strati superficiali pari a pochi nm e dipende dalla lunghezza d'onda elevate correnti di fascio e profondità di campo in presenza di alto vuoto elevate correnti di fascio, è limitata ai primi strati superficiali pari a pochi nm, dipende dal libero cammino medio tra urti anelastici e presenza di vuoto spinto.
2302. Gli assottigliatori sono in grado di asportare gli strati di decine di nm con bombardamento ionico di Ar in grado di asportare gli strati superficiali per RF sputtering in grado di ridurre lo spessore del campione con un taglio laser in grado di asportare gli strati superficiali con bombardamento ionico di gas nobili.
2303. Il TEM permette di lavorare con una serie di circonferenze concentriche di diffrazione di lavorare con apertura intorno al fascio diretto (campo chiaro) o con apertura intorno al fascio diffratto (campo scuro) di lavorare solo con apertura intorno al fascio diretto (campo chiaro) di lavorare solo con apertura intorno al fascio diffratto (campo scuro).
2304. Gli spettri dei raggi X rivelati devono essere corretti da fenomeni di aberrazione ed astigmatismo corretti dai fenomeni di retrodiffusione, dall'assorbimento dei fotoni X da parte del campione corretti dai fenomeni di retrodiffusione, dall'assorbimento dei fotoni X da parte del campione e da parte della fluorescenza corretti dai fenomeni di diffusione secondaria, dall'assorbimento dei fotoni X da parte del campione e da parte della fosforescenza.
2401. Il TEM ad alta risoluzione fornisce informazioni sulla struttura dei campioni attraverso l'interferenza dei fasci diffratti informazioni sulla struttura cristallina di campioni metallici attraverso l'immagine di diffrazione informazioni sulla struttura dei campioni attraverso l'immagine di diffrazione e dall'interferenza dei fasci diffratti informazioni sulla struttura dei campioni attraverso l'immagine di diffrazione.
2402. Il contrasto di fase nel TEM è generato da lenti poste in modo che si abbia interferenza tra il fascio trasmesso e il fascio diffuso così da ottenere informazioni sulla struttura atomica da lenti poste in modo che si abbia interferenza tra i fasci trasmessi così da ottenere informazioni sulla struttura atomica da lenti poste in modo che si abbia interferenza tra il fascio trasmesso e alcuni diffratti così da ottenere informazioni sulle distanze interplanari dalla differenza di cammino ottico tra fasci diretti.
2403. Il contrasto d'ampiezza nel TEM dipende dal grado di diffusione del campione dal grado di cristallinità del campione dal numero atomico, dalla densità del campione, dallo spessore e dallo scattering dalla densità del campione, dallo spessore e dallo scattering.
2404. Il contrasto di diffrazione nel TEM dipende dallo scattering coerente elastico legato alla legge di Bragg ed è presente in campioni cristallini dallo scattering coerente elastico legato alla legge di De Broglie ed è presente in campioni cristallini e amorfi dalla zona scura selezionata in campioni cristallini in cui sono presenti singoli spot di diffrazione dalla zona scura selezionata in cui sono presenti molti picchi di diffrazione.
2501. La legge di Lambert-Beer è applicabile per soluzioni poco concentrate e per radiazioni monocromatiche per soluzioni poco diluite e per radiazioni monocromatiche per soluzioni molto concentrate e per radiazioni monocromatiche per soluzioni diluite e per radiazioni policromatiche.
2502. Determina il cammino ottico sapendo che l'assorbanza a 280 nm è 0,80 il coefficiente di estinzione molare è 12500 M-1 cm-1 e la concentrazione è 8,6 x 10-5 M25 7,4 cm 0,074 cm 74,4 mm 0,744 cm.
2503. La legge di Lambert-Beer esprime la diretta proporzionalità tra l'assorbanza e la concentrazione molare di una soluzione in funzione del cammino ottico della radiazione la proporzionalità inversa tra la trasmittanza e la concentrazione molare di una soluzione in funzione della lunghezza d'onda della radiazione la diretta proporzionalità tra la trasmittanza e la concentrazione molare di una soluzione in funzione del cammino ottico della radiazione la diretta proporzionalità tra la trasmittanza e la concentrazione molare di una soluzione in funzione della lunghezza d'onda della radiazione.
2504. Le analisi qualitative e quantitative delle spettroscopie di emissione e di assorbimento sono funzione rispettivamente delle lunghezze d'onda e dell'intensità delle radiazioni rispettivamente dell'intensità e delle lunghezze d'onda delle radiazioni rispettivamente dell'energie e dell'intensità delle radiazioni rispettivamente dell'intensità e dell'energie delle radiazioni.
2505. Lo spettro dell'UV-Vis è compreso tra 10 - 800 micron 300 - 800 micron 10 - 800 nm 300 - 800 nm.
2601. I reticoli di trasmissione negli spettrometri UV-Vis sono costituiti da una serie di solchi paralleli tracciati sopra una superficie riflettente, piana o concava. costituiti da alcune microfenditure praticate su una superficie rivestita da Al. costituiti da un elevato numero di microfenditure praticate su una superficie rivestita da Al. costituiti da una serie di solchi paralleli su una superficie rivestita da Zn.
2602. Cosa sono i dinodi? Sono superfici presenti nei fotomoltiplicatori, elettronicamente attive tanto da produrre un numero elevato di elettroni in funzione dei fotoni incidenti e della d.d.p. applicata su di essi Sono superfici presenti nei fotodiodi, elettronicamente attive tanto da produrre un numero elevato di elettroni in funzione dei fotoni incidenti e della d.d.p. applicata su di Sono superfici presenti nei monocromatori, elettronicamente attive tanto da produrre un numero elevato di elettroni Sono superfici di Si e di Ge presenti nei fotodiodi, elettronicamente attive tanto da produrre un numero elevato di elettroni e far variare la d.d.p.
2603. Le sorgenti impiegate nella regione del UV sono lampade al deuterio lampade a scarica di xeno lampade a filamento di tungsteno lampade tungsteno-alogeno.
2604. I reticoli sono monocromatori che separano la luce policromatica in monocromatica monocromatori che trasmettono radiazioni con energie superiori rispetto a quelle incidenti monocromatori che assorbono parte della radiazione incidente e ne trasmettono un ampia gamma monocromatori che scindono la luce monocromatica in policromatica.
2605. Lo spettrometro UV-Vis è composto da campione, sorgente, monocromatore, rivelatore sorgente, campione, monocromatore, rivelatore sorgente, campione, rivelatore, monocromatore sorgente, monocromatore, campione, rivelatore.
2701. Lo spettrofofotometri UV-Vis con rivelatore a serie di diodi è uno spettrometro monoraggio in cui il campione è posto dopo il policromatore, che scompone la radiazione dirigendola verso il rivelatore contenente più di 1000 diodi. è uno spettrometro a doppio raggio in cui il campione è posto prima del policromatore, che scompone la radiazione dirigendola verso il rivelatore contenente più di 1000 diodi. è uno spettrometro monoraggio in cui il campione è posto prima del policromatore, che scompone la radiazione dirigendola verso il rivelatore contenente più di 1000 diodi. è uno spettrometro a doppio raggio in cui il campione è posto prima del monocromatore, che scompone la radiazione dirigendola verso il rivelatore contenente più di 1000.
2702. Lo spettrofotometro UV-Vis a doppio raggio analizza il raggio proveniente dal monocromatore tramite un colorimetro dirigendolo verso le cuvette dello standard e del campione. sdoppia il raggio proveniente dal monocromatore tramite uno specchio o un chopper dirigendolo verso le cuvette dello standard e del campione. analizza il raggio proveniente dal monocromatore tramite un colorimetro dirigendolo verso le cuvette dello standard e del campione, introdotte uno per volta sdoppia il raggio proveniente dal filtro tramite uno specchio o un chopper dirigendolo verso le cuvette dello standard e del campione.
2801. La spettrofotometria IR dà informazioni sulla composizione, struttura molecolare, purezza, forze di legame di un composto per lunghezze d'onda 0,78 micron - 104 micron dà informazioni sulla composizione, struttura molecolare, purezza, forze di legame di un composto per lunghezze d'onda 78 nm - 106 nm dà informazioni sulla composizione, struttura molecolare, purezza, forze di legame di un composto per lunghezze d'onda 7,8 micron - 103 micron dà informazioni sulla composizione, struttura molecolare, purezza, forze di legame di un composto per lunghezze d'onda 780 nm - 106 nm.
2901. In quali condizioni si verifica assorbimento IR? quando la variazione del momento di dipolo e del numero quantico sono diversi da zero producendo principalmente vibrazioni molecolari di stretching e di bending. quando la variazione del momento di dipolo è uguale a zero e quella del numero quantico è diversa da zero producendo principalmente vibrazioni molecolari di stretching e di bending. quando la variazione del momento di dipolo è diversa da zero e quella del numero quantico è uguale a zero producendo principalmente vibrazioni molecolari di stretching e di bending. quando la variazione del momento di dipolo e del numero quantico sono uguali a zero producendo principalmente vibrazioni molecolari di stretching e di bending.
2902. Una banda di assorbimento è caratterizzata da intensità, forma, frequenza intensità, forma, posizione intensità, larghezza, lunghezza d'onda intensità, forma, lunghezza d'onda.
2903. Nella spettrometrai IR tra i vari tipi di rivelatori è presente il bolometro che misura la radiazione trasmessa tramite due termocoppie in cui al variare della temperatura indotta dal raggio varia la tensione misura la radiazione trasmessa tramite resistenze ricoperte di Mn, Co, Cu e Ni che variano al crescere della temperatura indotta dal raggio misura la radiazione incidente tramite un ponte di Wheatstone in cui la variazione delle resistenze è dovuta alla variazione della temperatura indotta dal raggio misura la radiazione incidente tramite un ponte di Wheatstone in cui la variazione della d.d.p. è dovuta alla variazione della temperatura indotta dal raggio.
2904. Gli spettrofotometri IR a dispersione hanno il monocromatore posizionato tra la sorgente e il campione, seguito da un rivelatore e sistema di elaborazione segnale il campione e lo standard posizionati tra la sorgente e il monocromatore, che a sua volta è preceduto da un sistema di specchi per riflettere meglio i raggi IR il campione e lo standard posizionati tra la sorgente e l'interferometro, che a sua volta è seguito da un sistema di specchi e non di lenti per riflettere meglio i raggi IR il monocromatore posizionato tra la sorgente e il campione e lo standard, che a sua volta è preceduto da un sistema di specchi e non di lenti per riflettere meglio i raggi IR.
3001. Per analizzare i campioni gassosi nell'IR si utilizzano cuvette in NaCl o KBr con due finestre trasparenti all'IR in modo da aspirare il gas utilizzano cuvette in pyrex con due rubinetti e due finestre trasparenti all'IR in modo da aspirare il gas mentre si crea il vuoto utilizzano cuvette in NaCl con due finestre trasparenti all'IR in modo da aspirare il gas in presenza del vuoto utilizzano cuvette in pyrex con due rubinetti in modo da aspirare il gas da uno e dall'altro creare il vuoto.
3002. Negli spettrofotometri FT-IR l'interferometro varia l'intensità del fascio proveniente dalla sorgente prima di colpire il campione l'interferometro sdoppia il fascio proveniente dalla sorgente con interferenze costruttive o distruttive dando luogo alle frange di interferenza il policromatore sdoppia il fascio proveniente dalla sorgente con interferenze costruttive o distruttive dando luogo alle frange di interferenza il monocromatore varia l'intensità del fascio proveniente dalla sorgente prima di colpire il campione.
3003. Nella spettrofotometria IR per preparare campioni solidi si utilizzano sospensioni in fase liquida o dispersione in fase solida. In cosa differiscono? nella dispersione in fase solida disciolto in un solvente viene posto in una cella per liquidi; mentre nella fase liquida si prepara un'emulsione ad basso assorbimento IR nella dispersione in fase solida disciolto il campione disciolto in un solvente viene posto in una cella per liquidi; mentre nella fase liquida si prepara un'emulsione ad alto assorbimento IR nella dispersione in fase solida il campione finemente triturato viene posto in una cella per liquidi; mentre nella fase liquida si prepara un'emulsione ad basso assorbimento la dispersione in fase solida dopo una macinazione molto fine del campione in presenza di un mezzo disperdente si sottopone ad una pressa pastigliattrice; mentre nella fase liquida si prepara un'emulsione a basso assorbimento IR.
3004. Nella spettrofotometria IR per campioni liquidi si utilizzano solventi come il disolfuro di C o CHCl3 perché assorbono in zone ristrette e note. solventi come il disolfuro di C o CHCl3 perché assorbono in zone con lunghezze d'onda >3000 cm^-1 . solventi come il CCl3 o CHCl3 perché assorbono in zone note a basse lunghezze d'onda. solventi come il disolfuro di Na o CHCl3 perché assorbono in zone ristrette e note.
3005. Negli spettrofotometri FT-IR se lo specchio mobile si sposta di 3/2 ? si avrà interferenza distruttiva non si avrà interferenza si avrà interferenza costruttiva lo specchio può muoversi solo per lunghezze intere.
3101. L'analisi quantitativa dello spettro IR è influenzata da tre fattori lunghezza d'onda del campione, spessore della cella e assorbanza netta frequenza di lavoro, spessore della cella e assorbanza max frequenza di lavoro, spessore della cella e assorbanza % lunghezza d'onda del campione, spessore della cella e assorbanza di base.
3102. Nello spettro IR di una sostanza si distinguono la zona delle impronte digitali e dei gruppi funzionali per valori rispettivamente inferiori e superiori alla frequenza di 1400 cm^-1 rispettivamente tra 1000-1400 cm^-1 e 1400- 4000 cm ^-1 rispettivamente tra 1400- 4000 cm^-1 e 1000-1400 cm ^-1 rispettivamente superiori e inferiori alla frequenza di 1400 cm^-1.
3201. Si definisce chemical shift la frequenza di risonanza di un 1H la variazione tra frequenze assorbite e frequenze trasmesse la variazione della frequenza di risonanza funzione dell'intorno atomico (più o meno elettronegativo) di un protone lo spostamento chimico in funzione della lunghezza d'onda incidente.
3202. L'equazione fondamentale della NMR afferma che la frequenza di risonanza è data dal rapporto tra il campo magnetico esterno e il rapporto giromagnetico che la frequenza di risonanza è data dal rapporto tra il campo magnetico esterno per il rapporto giromagnetico diviso 2p che la frequenza di risonanza è data dal rapporto tra il campo magnetico esterno e il numero quantico di spin che la frequenza di risonanza è data dal rapporto tra il momento magnetico esterno e il rapporto giromagnetico.
3203. Si ha assorbimento di radiofrequenze se il numero quantico di spin assume valori interi o frazionari assume valori diversi da zero assume valori frazionari assume valori nulli.
3204. La spettroscopia di risonanza magnetica nucleare (NMR) permette di determinare la struttura di una sostanza organica irradiando a lunghezze d'onda tra 10- 1000 cm permette di determinare la struttura di una sostanza organica irradiando frequenze tra 10^5 - 10^10 Hz permette di determinare la struttura di una sostanza organica irradiando a lunghezze d'onda tra 10^5- 10^10 micron permette di determinare la struttura di una sostanza organica irradiando a lunghezze d'onda tra 10^5- 10^10 micron.
3301. Il chemical shift nel 13C-NMR aumenta in presenza di alogenuri e ibridizzazioni sp2 al diminuire della presenza di atomi elettronegativi e al crescere dell'ibridizzazione al crescere della presenza di atomi elettronegativi e al diminuire dell'ibridizzazione in presenza di ibridizzazioni sp3 e alogenuri.
3302. Nella scala ? che valore assume il gruppo carbossilico nello spettro1H-NMR? 8-9 ppm 10-12 ppm 7-8 ppm 9-10 ppm.
3303. Cosa è l'effetto schermante? la presenza di atomi elettronegativi che vibrano a frequenze più basse di quelle imposte la presenza di grandi nuvole elettroniche che schermano l'effetto delle correnti indotte la formazione di un campo magnetico interno, generato da correnti indotte, che scherma il nucleo opponendosi al campo magnetico esterno applicato l'intorno atomico di un nucleo che vibra a frequenze differenti rispetto quella applicata.
3401. Lo spettrometro NMR è costituito da una spira che avvolge il campione che emette segnali di risonanza chearrivano al rivelatore da un cristallo oscillatore, da un generatore di impulsi e da un amplificatore un magnete superconduttore al cui interno c'è il campione che è in risonanza un magnete al cui interno è posizionata una sonda con all'interno il campione che emette il segnale di risonanza amplificato e individuato dal rivelatore.
3402. Nel CH3-O-CH-(CH3)2 il mutipletto con 7 picchi a 3,7 ppm è dovuto al CH legato ai due gruppi metilici al CH legato all'ossigeno e i picchi sono 7 per i 6H dei due gruppi metilici al CH legato all'ossigeno e i picchi sono 7 per i 7H dei due gruppi metilici piùquello di CH ai 7H dei due gruppi metilici più quello di CH.
3403. La molteplicità di un segnale NMR è uguale agli accoppiamenti di spin non equivalenti è uguale agli accoppiamenti di spin più 1 è uguale al numero di idrogeni vicini ad una molecola più 1 è uguale al numero di idrogeni vicini ad una molecola.
3501. L'analisi qualitativa di uno spettro NMR prevede prima un'analisi IR e una spettrometria di massa e poi si valutano criteri particolari. l'impiego di un solvente o di un reattivo di contare insaturazioni e picchi, valutare i diversi chemical shift per individuare i vari tipi di H, definire gli accoppiamenti spin-spin, gli effetti schermanti e non ed potizzare una possibile struttura molecolare di contare insaturazioni, definire gli accoppiamenti spin-spin, gli effetti schermanti e non ed potizzare una possibile struttura molecolare.
3502. Nello spettro NMR 2D COSY individua correlazioni tra isotopi 13C riportate su uno spettro bidiensionale con una diagonale principale in cui sono contenuti i picchi dello spettro monodimensionale, le macchie al di fuori della diagonale sono relativi a due diverse frequenze e chemical shift (cross peak) correlazioni dipolari della stessa molecola riportate su uno spettro bidiensionale con una diagonale principale in cui sono contenuti i picchi dello spettro monodimensionale, le macchie al di fuori della diagonale sono relativi a due diverse frequenze e chemical shift (cross peak) correlazioni con frequenze differenti riportate su uno spettro bidiensionale con una diagonale principale in cui sono contenuti i picchi dello spettro monodimensionale, le macchie al di fuori della diagonale sono simmetriche e relativi a due diverse frequenze e chemical shift (cross peak) correlazioni con frequenze differenti riportate su uno spettro bidiensionale con una diagonale principale in cui sono contenuti i picchi dello spettro monodimensionale, le macchie al di fuori della diagonale sono in antifase e relativi a due diverse frequenze e chemical shift (cross peak).
3601. I fattori che influenzano la fluorescenza sono solvente, pH, concentrazione, matrice, temperatura, rilassamento solvente, pH, matrice, concentrazione, temperatura, smorzamento solvente, pH, energia, concentrazione, temperatura, smorzamento solvente, pH, matrice, soluzione, temperatura, smorzamento.
3602. I fenomeni di fotoluminescenza sono dovuti all'azione di un campo elettrico che eccita le sostanze che emetteranno radiazioni elettromagnetiche a reazioni chimiche che attivano specie chimiche o biochimiche rilasciando energia luminosa a radiazione energetica emessa da una molecola eccitata per tornare da un livello energetico superiore ad una inferiore a transizioni elettroniche della sostanza emettitrice da uno stato eccitato ad uno stato fondamentale.
3603. La fosforescenza è una transizione con emissione di energia dallo stato di tripletto eccitato a quello fondamentale in tempi lunghi una transizione con emissione di energia dallo stato di singoletto eccitato a quello fondamentale in tempi brevi una transizione con emissione di energia dallo stato di singoletto eccitato a quello fondamentale in tempi lunghi una transizione con emissione di energia dallo stato di tripletto eccitato a quello fondamentale in tempi brevi.
3604. La conversione intersistema avviene quando l'elettrone eccitato passa dal livello energetico più basso dello stato di singoletto a quello di tripletto perché la molecola ha due elettroni con spin paralleli ma in orbitali differenti l'elettrone eccitato passa dal livello energetico più alto a quello più basso dello stato di singoletto l'elettrone eccitato passa dal livello energetico più alto dello stato di singoletto a quello fondamentale con emissione radiattiva di fosforescenza l'elettrone eccitato passa dallo stato di singoletto a quello di tripletto perché la molecola ha due elettroni con spin paralleli opposti.
3701. Lo spettro di eccitazione corretto in fluorimetria è dato dal rapporto tra il segnale fluorescente proveniente dal campione ad una lunghezza d'onda fissa e da quello proveniente dal riferimento ottenendo uno spettro uguale a quello di assorbimento dato dal rapporto tra il segnale proveniente dal campione e da quello proveniente dal riferimento ottenendo uno spettro uguale a quello di assorbimento dato dal rapporto tra il segnale proveniente dal campione e da quello proveniente dalla sorgente ottenendo uno spettro uguale a quello di assorbimento dato dal rapporto tra il segnale proveniente dal campione e da quello proveniente dal riferimento ottenendo uno spettro uguale a quello di emissione.
3702. Il rivelatore principale in un fluorimetro si trova ortogonalmente al rivelatore di riferimento per registrare lo spettro di fluorescenza si trova ortogonalmente alla sorgente per eliminare le interferenze e le riflessioni all'interno della cuvetta si trova parallelamente al rivelatore di riferimento per registrare lo spettro di emissione si trova sulla stessa linea d'asse della sorgente per eliminare le interferenze e le riflessioni all'interno della cuvetta.
3703. L'analisi quantitativa nella fluorimetria permette di calcolare l'intensità della radiazione fluorescente con la legge F = S · ? · I0 · (1 - 10A) F = S · ? · I0 · (1 - 10-A) F = S · ? · I0 · c · (1 - 10-A) F = S · c · I0 · (1 - 10-A).
3704. Lo spettro sincrono si ottiene variando la lunghezza d'onda della radiazione eccitante e della radiazione emessa, possono essere rappresentati dalle sezioni trasversali di uno spettro trimensionale variando l'intensità della radiazione eccitante e della radiazione emessa, possono essere rappresentati dalle sezioni trasversali di uno spettro trimensionale variando la lunghezza d'onda della radiazione eccitante, possono essere rappresentati dalle sezioni trasversali di uno spettro trimensionale variando la lunghezza d'onda del monocromatore di eccitazione; possono essere rappresentati dalle sezioni trasversali di uno spettro trimensionale.
3801. La spettroscopia Raman di risonanza permette di analizzare campioni lungo lo spessore senza tagliarli e fino a 10 micron di superficie valutandone i moti vibrazionali e rotazionali delle molecole di analizzare campioni lungo lo spessore senza tagliarli e fino a 1 micron di superficie valutandone i moti vibrazionali e rotazionali delle molecole quando vengono colpite da radiazioni incidente di uguale frequenza di quelle emesse. di analizzare campioni lungo lo spessore sezionandoli e fino a 1 micron di superficie valutandone i moti vibrazionali e rotazionali delle molecole di analizzare campioni lungo lo spessore senza tagliarli e fino a 1 micron di superficie valutandone i moti vibrazionali e rotazionali delle molecole.
3802. Il fattore tempo è discriminante nella fosforimetria per accelerarlo si può portare il campone a basse T pari allo stato vetroso, inglobare il campione in matrici polimeriche, disciogliere un elemento pesante nel solvente portare il campone a basse T pari allo stato vetroso, disciogliere un elemento pesante nel solvente portare il campone a basse T pari allo stato gommoso, inglobare il campione in matrici polimeriche, disciogliere un elemento pesante nel solvente portare il campone a basse T pari allo stato vetroso, inglobare il campione in matrici polimeriche, disciogliere un elemento a basso peso molecolare nel solvente.
3901. Nella cromatografia a scambio ionico la fase stazionaria è un solido con gruppi funzionali a cui le molecole di analita si legano, un'opportuna diluizione favorisce la rottura di tali legami recuperando dalla colonna le molecole di analita la fase stazionaria è un solido poroso e le molecole dell'analita disciolte nella fase mobile penetrano nei pori mentre quelle più grandi escono dalla colonna in tempi brevi la fase stazionaria è un solido con superficie adsorbente, i soluti tenderanno ad essre adsorbiti sulla fase stazione in funzione della polarità della fase mobile la fase stazionaria è una resina con siti attivi bilanciati da controioni; gli anioni della fase mobile si sostituiscono ai controioni della resina; quando la concentrazione dei controioni della resina aumenta gli ioni della miscela vengono rimossi e eluiti.
3902. Quali sono i meccanismi di separazione cromatografici? Adsorbimento, ripartizione, scambio ionico, affinità, inclusione Adsorbimento, ripartizione, scambio ionico, affinità Adsorbimento, ripartizione, scambio ionico, affinità, esclusione Adsorbimento, separazione, scambio ionico, affinità, esclusione.
4001. Una colonna è tanto più efficiente quanto minore è H, e quindi con un numero basso di piatti teorici, che da bande strette e ben distinte tanto più efficiente quanto minore è H, e quindi con un numero elevato di piatti teorici, che da bande larghe e ben distinte tanto più efficiente quanto minore è H, e quindi con un numero elevato di piatti teorici, che da bande strette e ben distinte tanto più efficiente quanto maggiore è H, e quindi con un numero elevato di piatti teorici, che da bande strette e ben distinte.
4002. Il fattore di ritenzione può essere determinato da due parametri il tempo di ritenzione corretto e il numero di moli di analita nella fase stazionaria il tempo di ritenzione corretto e il volume morto il tempo di ritenzione corretto e il numero di moli di analita nella fase mobile il tempo di ritenzione corretto e il tempo morto.
4003. Il tempo di ritenzione è pari al tempo di sostanza presente nella fase mobile pari al tempo in cui ogni sostanza impiega per interagire con la fase stazionaria pari al tempo necessario affinchè ogni componente della miscela eluisca dalla colonna pari al tempo di sostanza non trattenuta dalla fase stazionaria.
4004. Il volume morto è il volume a disposizione della fase mobile il volume di sostanza eluita il volume a disposizione della fase stazionaria il volume della colonna non occupato da fase mobile e stazionaria.
4005. L'equazione fondamentale della cromatografia è VR = VS + KC VM VR = VM + KM VS VR = VM + KC VS VR = VS + KM VM.
4101. L'equazione di Van Deemter H = A + B/? + (CS + CM)? è funzione della velocità lineare media della fase mobile, dove A è associato alla resistenza al trasferimento di massa, B è associato alla diffusione molecolare longitudinale e C è associato ai percorsi multipli e alla diffusione di flusso A è associato ai percorsi multipli e alla diffusione di flusso, B è associato alla diffusione molecolare longitudinale e C è associato alla resistenza al trasferimento di massa A è associato ai percorsi multipli e alla diffusione di flusso, B è associato alla resistenza al trasferimento di massa e C è associato alla diffusione molecolare longitudinale A è associato alla diffusione molecolare longitudinale, B è associato ai percorsi multipli e alla diffusione di flusso e C è associato alla resistenza al trasferimento di massa.
4102. La risoluzione R indica il grado di separazione dei picchi cromatografici ed è funzione del tempo di ritenzione e della selettività (?) il grado di separazione dei picchi cromatografici ed è funzione dell'efficienza, della selettività (?) e del fattore di ritenzione (k) che variano con la T il grado di separazione dei picchi cromatografici ed è funzione di N, delle larghezze alla base dei picchi e del fattore di ritenzione (k) il grado di separazione dei picchi cromatografici ed è funzione di N, della selettività (?) e del fattore di ritenzione (k) che variano con la T.
4103. La cromatografia su strato sottile (TLC) consiste di un supporto solido in cui è fatto aderire il campione, mentre la fase stazionaria e la fase mobile scorrono per capillarità su di esso di un supporto solido che funge da fase stazionaria e su di esso è depositato il campione, il tutto è immerso nella fase mobile di un supporto solido che funge da fase stazionaria, sopra di esso si deposita il campione e si fa scorrere l'eluente scorre su di essi di un supporto solido in cui è fatta aderire la fase stazionaria, al di sopra di essa si deposita il campione e l'eluente scorre su di essi per capillarità.
4104. Cosa è il tailing di un picco cromatografico? è una forma di asimmetria dei picchi cromatografici in cui il tracciato sale bruscamente per scendere lentamente è una forma di asimmetria della larghezza di base della curva gaussiana è una forma di asimmetria dei picchi cromatografici in cui il tracciato sale lentamente per scendere bruscamente è una forma di asimmetria dell'altezza della curva gaussiana.
4201. Le serie eulotropiche ordinano i solventi, impiegati nella TLC, in ordine crescente di polarità, ma l'ordine può cambiare in funzione dell'adsorbente ordinano i solventi, impiegati nella TLC, in ordine crescente di polarità, ma l'ordine può cambiare in funzione dei componenti della miscela ordinano i solveti, impiegati nella TLC, in ordine decrescente di polarità, ma l'ordine può cambiare in funzione dell'adsorbente ordinano i solventi, impiegati nella TLC, in ordine crescente di legami H, ma l'ordine può cambiare in funzione dell'adsorbente.
4202. Il fattore di ritardo o di ritenzione è il rapporto tra la distanza del centro della macchia e il fronte del solvente e la distanza tra una macchia di riferimento e la linea di semina il rapporto tra la distanza del centro della macchia e la linea di semina e la distanza tra fronte del solvente e la linea di semina il rapporto tra la distanza del centro della macchia e il fronte del solvente e la distanza tra fronte del solvente e la linea di semina il rapporto tra la distanza del bordo della macchia e la linea di semina e la distanza tra il fronte del solvente e la linea di semina.
4203. Efficienza e risoluzione delle macchie in TLC: la prima è l'attitudine del sistema a conservare compatte le macchie; la seconda è l'attitudine ad ottenere macchie ben distanziate la prima è l'attitudine del sistema ad eluire rapidamente la macchia; la seconda è l'attitudine ad ottenere macchie ben distanziate la prima è la quantità massima di sostanza che si semina; la seconda è l'attitudine ad ottenere macchie ben distanziate la prima è l'attitudine del sistema a conservare compatta la macchia; la seconda è l'attitudine ad ottenere macchie circolari.
4301. La cromatografia HPLC è presenta colonne di lunghezze e diametri contenuti, compresi rispettivamente tra 3-50 cm e 1-5 cm. La fase stazionaria è impaccata con granulometria micrometrica tanto che per far fluire l'eluente serve una pompa da vuoto presenta colonne di lunghezze e diametri contenuti, compresi rispettivamente tra 3-25 cm e 1-5 ?m. La fase stazionaria è impaccata con granulometria micrometrica tanto che per far fluire l'eluente si variano i parametri della fase mobile presenta colonne di lunghezze e diametri contenuti, compresi rispettivamente tra 3-25 cm e 1-5 ?m. La fase stazionaria è impaccata con granulometria micrometrica tanto che per far fluire l'eluente serve una pompa da vuoto presenta colonne di lunghezze e diametri contenuti, compresi rispettivamente tra 3-25 cm e 1-5 ?m. La fase stazionaria è impaccata con granulometria nanometrica tanto che per far fluire l'eluente serve una pompa da vuoto.
4302. I rivelatori a MS nella Cromatografia Liquida permettono di individuare le masse di ioni molecolari (m/z) in corrispondenza dei picchi di misurare la corrente generata ad un elettrodo sul quale avviene una reazione redox che coinvolge l'analita di individuare le sostanze che fluorescono di individuare gli assorbimenti nel visibile delle sostanze che eluiscono dalla colonna.
4303. Nella cromatografia ionica (IC) si ottiene la separazione di ioni e composti polari, in cui la fase mobile è una soluzione ionica acquosa e la fase stazionaria è una resina a scambio anionico o cationico si ottiene la separazione di specie ad elevata massa molecolare, in cui la fase mobile è una soluzione diluita a base acida e la fase stazionaria è un polimero con bassa si ottiene la separazione di specie ad elevata massa molecolare, in cui la fase mobile è una soluzione basica e la fase stazionaria è un polimero poroso si ottiene la separazione di specie nuetre, in cui la fase mobile è una soluzione ionica acquosa e la fase stazionaria è una resina a scambio anionico o cationico.
4401. Una risoluzione elevata dipende da H e T bassi, aumentando la granulometria della fase stazionaria, aumentando il fattore di ritenzione da H bassi e T ambiente o programmata, riducendo la granulometria della fase stazionaria, riducendo il fattore di ritenzione da H alti e T ambiente o programmata, riducendo la granulometria della fase stazionaria, aumentando il fattore di ritenzione da H bassi e T ambiente o programmata, riducendo la granulometria della fase stazionaria, aumentando il fattore di ritenzione.
4402. Nella GC la fase mobile è un gas che funge solo da carrier, mentre la fase stazionaria può essere solida o liquida, il composto da analizzare deve essere vaporizzabile a T>500°C un gas che trasporta eluiti, mentre la fase stazionaria può essere solida o liquida, il composto da analizzare deve essere vaporizzabile a T>500°C un gas che funge solo da carrier, mentre la fase stazionaria può essere solida o liquida, il composto da analizzare deve essere sufficientemente volatile e stabile un gas, mentre la fase stazionaria può essere solida o liquida, il composto da analizzare deve essere stabile termicamente.
4403. Il tempo di ritenzione corretto è tR= t'R - tm t'R= tR - tm t'R= tm - tR tR= tm - t'R.
4404. L'efficienza e la selettività in GC: la prima dipende dal numero dei piatti teorici e per ottenere picchi stretti è necessario valori alti di H. La seconda è la capacità di eluire specie diverse in velocità differenti così da avere picchi separati la prima dipende dal numero dei piatti teorici e per ottenere picchi stretti è necessario valori bassi di H. La seconda è la capacità di eluire specie diverse con velocità elavate (<1) così da avere picchi separati la prima dalla velocità di eluizione in modo da avere picchi separati. La seconda dipende dai valori di H per ottenere picchi stretti la prima dipende dal numero dei piatti teorici e per ottenere picchi stretti è necessario valori bassi di H. La seconda è la capacità di eluire specie diverse in velocità differenti così da avere picchi separati.
4501. Le fasi stazionarie legate sono fasi stazionarie solide legate chimicamente ai gruppi ossidrilici della silice del supporto o alle pareti della colonna, termicamente stabili fasi stazionarie liquide legate chimicamente ai gruppi ossidrilici della silice del supporto o alle pareti della colonna,ma con difficoltà di spurgo fasi stazionarie solide termicamente legate ai gruppi ossidrilici della silice del supporto o alle pareti della colonna fasi stazionarie liquide legate chimicamente ai gruppi ossidrilici della silice del supporto o alle pareti della colonna, termicamente stabili.
4502. L'efficienza di una colonna SCOT è inferiore a quella di una PLOT e minore di una colonna impaccata inferiore a quella di una WCOT, ma maggiore di una colonna impaccata superiore a quella di una WCOT e maggiore di una colonna impaccata inferiore a quella di una PLOT, ma maggiore di una colonna impaccata.
4503. Nella GC se i picchi tendono ad allargarsi ed abbassarsi per fenomeni diffusivi con lunghi tempi di ritenzione, allora si lavora con T programmata sono asimmetrici occorre iniettare poco campione tendono a crescere lentamente per poi diminuire repentinamente, allora si lavora con T programmata presentano un effetto scodato per fenomeni diffusivi con lunghi tempi di ritenzione, allora si lavora con T programmata.
4504. L'equazione di Van Deemter nelle colonne capillari non è presente il termine B CS A CM.
4601. Nella camera termostatica le colonne vanno mantenute a T piuttosto basse per facilitare la separazione vanno mantenute a T elevate per facilitare la separazione vanno mantenute a T costanti, pari alla media delle Tevap della miscela da separare e del gas vanno mantenute a T costanti, pari alla media delle Teb della miscela da separare.
4602. Negli iniettori splitless lo split è chiuso durante l'iniezione della miscela, nella colonna a T basse così entra tutta la soluzione, anche un po' di solvente che a fine iniezione spurgherà la valvola di spurgo è chiusa durante l'iniezione, e la miscela entra in colonna assieme al solvente, che verrà eliminato quando viene aperta la valvola di spurgo. la valvola di spurgo è aperta durante l'iniezione e si ha solo una piccola parte della miscela che entra in colonna la valvola di spurgo è aperta durante l'iniezione, e la miscela entra in colonna assieme al solvente, che si ricondenserà con la miscela.
4701. Gli inietttori PTV iniettano la miscela con una siringa e poi si aumenta la T in modo da vaporizzare i composti che arriverranno in colonna in tempi rapidi e senza componnti bassobollenti iniettano la miscela in un inserto freddo e tramite la valvola split i composti arriverranno in colonna in tempi rapidi iniettano la miscela in un inserto freddo e poi si aumenta la T in modo da vaporizzare i composti che arriverranno in colonna in tempi rapidi e senza componenti bassobollenti iniettano piccolissime quantità di miscela in un inserto freddo e poi si aumenta la T in modo da vaporizzare i composti che arriverranno in colonna in tempi rapidi.
4702. I rivelatori a termoconducibilità al termine della colonna GC sono costituiti da due resistenze a filo caldo lambite l'una dal carrier dentro la colonna e l'altra da quello in uscita; lo sbilanciamento termico provoca un variazione di T sono costituiti da due resistenze a fascia lambite l'una dal carrier dentro la colonna e l'altra da quello in uscita a temperature elevate; lo sbilanciamento termico provoca un variazione di T sono costituiti da un condensatore e una resistenza lambiti l'uno dall'eluato e l'altra dal carrier; lo sbilanciamento termico provoca un passaggio di corrente corrispondente alla concentrazione del componente sono costituiti da due resistenze a filo caldo lambite l'una dal carrier e l'altra da quello in uscita dalla colonna; lo sbilanciamento termico provoca un passaggio di corrente corrispondente alla concentrazione del componente.
4703. L'analisi quantitativa in GC è basata sulla misura dell'aree dei picchi cromatografici, se volessi conoscere la concentrazione di un solo componente impiego il metodo della misura della concentrazione la titolazione un raffronto tra le pressioni in uscita del componente puro e quella della soluzione un raffronto tra il volume di soluzione contente il componente puro eil volume della stessa soluzione diluita.
4801. Lo spessore di un rivestimento può essere rilevato con metodo coulometrico il cross-cut test il peel test lo scratch test.
4802. Se ottengo una durezza Barcol di una resina termoindurente pari a 32, posso affermare che sottopolimerizzato indurimento quasi completato indurimento completo in fase d'indurimento.
4803. Il test di abrasione a tamburo rotante determina la perdita di materiale tramite analisi spettrometrica UV_Vis la perdita di materiale in funzione della pressione di abrasione la differenza di peso di materiale prima e dopo il test la profondità di materiale asportato tramite ingrandimenti ottici.
4804. Il test di adesione mediante quadrettatura (ISO 2490) rileva il 25% di superficie distaccata attribuisco un valore ISO 1 attribuisco un valore ISO 4 attribuisco un valore ISO 2 attribuisco un valore ISO 3.
4805. Si può affermare che una superficie verniciata abbia un buon grado di gloss se con angolo d'incidenza pari a 20° otteniamo valori >85 se con angolo d'incidenza pari a 20° otteniamo valori >90 se con angolo d'incidenza pari a 60° otteniamo valori >60 se con angolo d'incidenza pari a 85° otteniamo valori >20.
4806. Le condizioni per le prove di invecchiamento in nebbia salina prevedono che i campioni in camera stiano per 720 h a T=35°C con pH= 6,5-7,2 nebulizzando una soluzione di 5% di NaCl con 95% Rh che i campioni in camera stiano per 720 h a T=35°C con pH= 6,5-7,2 nebulizzando una soluzione di 5% di NaCl con 85% Rh che i campioni in camera stiano per 720 h a T=35°C con pH= 2,7 - 5,6 nebulizzando una soluzione di 5% di NaCl con 95% Rh che i campioni in camera stiano per 30 gg a T=45°C con pH= 6,5-7,2 nebulizzando una soluzione di 5% di NaCl con 95% Rh.
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